[發(fā)明專利]一種檢測雙包層光纖涂層缺陷的方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610762074.8 | 申請日： | 2016-08-30 |
| 公開（公告）號： | CN106198565A | 公開（公告）日： | 2016-12-07 |
| 發(fā)明（設計）人： | 劉銳;王靜;吳杰;包箭華;李云麗;朱建友;李沅桉;魏斌建;曾紅姣 | 申請（專利權）人： | 武漢睿芯特種光纖有限責任公司 |
| 主分類號： | G01N21/952 | 分類號： | G01N21/952;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京華沛德權律師事務所 11302 | 代理人： | 房德權 |
| 地址： | 430075 湖北省武漢市東湖新技術*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 檢測 包層 光纖 涂層 缺陷 方法 裝置 | ||
【說明書】：
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