[發明專利]一種基于GPU的TFT-LCD Mura缺陷檢測的方法有效
| 申請號： | 201610761614.0 | 申請日： | 2016-08-29 |
| 公開（公告）號： | CN106200047B | 公開（公告）日： | 2019-03-22 |
| 發明（設計）人： | 魯方波;姚峰;鄧標華;陳凱;沈亞非 | 申請（專利權）人： | 武漢精測電子集團股份有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 宋業斌 |
| 地址： | 430070 湖北省武漢*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 gpu tft lcd mura 缺陷 檢測 方法 | ||
【說明書】：
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