[發明專利]一種存儲器塊處理方法和裝置

在審

• 申請號: 201610754612.9
• 申請日: 2016-08-29
• 公開（公告）號: CN107783723A
• 公開（公告）日: 2018-03-09
• 發明（設計）人: 劉振軍
• 申請（專利權）人: 深圳市中興微電子技術有限公司
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司11270
• 代理人: 張穎玲,蔣雅潔

技術領域

本發明涉及集成電路存儲器領域，尤其涉及一種存儲器塊處理方法和裝置。

背景技術

非易失性存儲器如閃存(Flash)一般是由多個塊(Block)組成，讀寫操作一般基于一個地址或一個塊，擦除操作一般基于一個塊，即擦除的最小范圍是塊，通常一次擦除一個塊，即擦除多個地址；由此，存儲器某個存儲地址出現問題的時候，常用方法就是對該地址所在的塊進行標注，壞塊管理即基于此。

存儲器某個地址可能會出現不可恢復的讀寫錯誤，即壞塊；這種壞塊可能是在生產過程中產生，也有可能是在使用過程中產生；壞塊產生后，如果不做任何處理，那么，必然會造成數據和程序的錯誤；如果對出問題的芯片進行報廢處理，則十分浪費；因此，可以采用壞塊管理功能解決這個問題。

針對壞塊的管理，目前的一種處理方法是，針對生產過程中產生的壞塊，在存儲器中預留出1～2塊冗余塊，在晶圓測試(CP，Circuit Probing)的時候找到存儲器中存在的壞塊，然后在使用的時候將產生壞塊的塊映射到冗余塊中。但這種方法的缺陷是：只可以針對生產過程中產生的壞塊進行處理，不可以對使用中產生的壞塊進行處理；因為壞塊通常是由生產廠家進行測試的，而且測試中發現壞塊的數量不可以大于規定值，例如：如果冗余塊為2，那么芯片中壞塊數量不能大于2，如果大于規定值，只能將芯片作廢。可見，這種方案不夠靈活，并且一旦出現使用壞塊或者生產壞塊過多，只能將芯片作廢，進而造成浪費。通常，在進行壞塊替換的時候，都要求存儲空間有若干個冗余塊，用來做壞塊的備用塊，那么，在沒有壞塊的時候，冗余塊不會被用到，這樣就造成存儲空間的浪費。

另一種處理方法是，將存儲器地址分為兩段區域，一段正常的數據區域，一段是存儲器的狀態位區域，狀態位區域用來存儲存儲器的壞塊信息、錯誤檢查和糾正(ECC，Error Correcting Code)信息等。這種方法利用一些存儲器狀態位的對比，來判斷當前塊是否為壞塊。但此種方法要求，在擦除塊之前，一定要將所有的壞塊狀態信息讀出來，否則狀態信息也會與數據區域一同被擦除；而如果用戶一旦出現誤操作，那么壞塊信息將不復存在；因此，該方法存在操作復雜的問題。

因此，如何在生產和使用過程中都能便捷地進行壞塊管理，提升塊管理效率，是亟待解決的問題。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例期望提供一種存儲器塊處理方法和裝置，在生產和使用過程中都能便捷地進行壞塊管理，提升塊管理效率。

為達到上述目的，本發明的技術方案是這樣實現的：

本發明實施例提供了一種存儲器塊處理方法，將存儲器分為數據區域和非易失性隨機訪問存儲器(NVR，Non-Volatile Random access memory)；所述方法還包括：

確定存儲器中的壞塊，將壞塊信息存儲到NVR區域；

存儲器使用過程中，根據所述NVR區域存儲的所述壞塊信息，確定存儲器中的壞塊，并屏蔽所述壞塊的訪問。

上述方案中，所述方法還包括：將所述存儲器可用空間大小存儲到NVR區域。

上述方案中，所述確定存儲器中的壞塊，包括：在所述存儲器寫入預設信息，讀取所述存儲器中的信息與所述預設信息進行對比，將不匹配信息對應地址所在塊確定為壞塊；和/或，

讀取所述存儲器擦除后各地址的信息，將不等于初始信息內容對應地址所在塊確定為壞塊。

上述方案中，所述方法還包括：將所述壞塊地址映射到所述存儲器中指定位置。

上述方案中，所述將壞塊地址映射到存儲器中指定位置，包括：從所述存儲器的數據區域末尾開始向頭的方向依次映射所述壞塊。

本發明實施例還提供了一種存儲器塊處理裝置，所述裝置包括：劃分模塊、塊信息確定模塊和壞塊確認模塊；其中，

所述劃分模塊，用于將存儲器分為數據區域和NVR；

所述塊信息確定模塊，用于確定存儲器中的壞塊，將壞塊信息存儲到NVR區域；

所述壞塊確認模塊，用于存儲器使用過程中，根據所述NVR區域存儲的所述壞塊信息，確定存儲器中的壞塊，并屏蔽所述壞塊的訪問。

上述方案中，所述塊信息確定模塊，還用于將所述存儲器可用空間大小存儲到NVR區域。

上述方案中，所述塊信息確定模塊，具體用于：在所述存儲器寫入預設信息，讀取所述存儲器中的信息與所述預設信息進行對比，將不匹配信息對應地址所在塊確定為壞塊；和/或，

讀取所述存儲器擦除后各地址的信息，將不等于初始信息內容對應地址所在塊確定為壞塊。