[發明專利]確定軸承設置的方法

有效

• 申請號: 201610750878.6
• 申請日: 2016-08-29
• 公開（公告）號: CN106555821B
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: 道格拉斯·K·布勞內爾;斯泰西·K·沃爾利;凱爾·K·麥肯基;羅伯特·L·小伍德
• 申請（專利權）人: 迪爾公司
• 主分類號: F16C35/04
• 分類號: F16C35/04;G01D21/02
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 汪洋

一種用于確定軸組件中的軸承的軸承設置的方法，其中軸組件包括殼體和相對于殼體可旋轉的軸，并且軸承包括連接到軸的第一軸承部件和連接到殼體的第二軸承部件，所述方法包括將測量裝置的第一部分定位成與殼體直接或間接接觸，并且將測量裝置的第二部分定位成與軸直接或間接接觸。方法還包括利用測量裝置測量指示第一軸承部件和第二軸承部件之間的接觸量的參數。

技術領域

本公開涉及用于裝配包括軸承的軸的方法。特別地，本發明涉及用于精確地確定軸承的設置的方法。

發明內容

一種用于確定軸組件中的軸承的軸承設置的方法，其中軸組件包括殼體和相對于殼體可旋轉的軸，軸承包括連接到軸的第一軸承部件和連接到殼體的第二軸承部件，所述方法包括將測量裝置的第一部分定位成與殼體直接或間接接觸，并且將測量裝置的第二部分定位成與軸直接或間接接觸。所述方法還包括利用測量裝置測量指示第一軸承部件和第二軸承部件之間的接觸量的參數。

一種用于確定軸組件中的軸承的軸承沒置的方法，其中軸組件包括殼體和相對于殼體可旋轉的軸，軸承包括連接到軸的第一軸承部件和連接到殼體的第二軸承部件，所述方法包括將測量裝置的第一引線定位成與殼體電接觸，并且將測量裝置的第二引線定位成與軸電接觸。方法還包括利用測量裝置施加激勵。所述方法進一步地包括利用測量裝置測量第一引線和第二引線之間的電阻。所述方法額外地包括基于所述測量將電阻與第一軸承部件和第二軸承部件之間的軸承力相關聯。

一種設置錐形滾柱軸承的方法，所述方法包括將包括杯狀物的第一軸承部件連接至殼體，并且將包括錐體的第二軸承部件連接至軸。所述方法還包括將測量裝置的第一部分定位成與杯狀物直接或間接接觸，并且將測量裝置的第二部分定位成與錐體直接或間接接觸。所述方法進一步地包括利用測量裝置測量測量裝置的第一部分和測量裝置的第二部分之間的電阻、電容、電感或振動噪聲的至少一個的值。方法還包括基于所述值調節第一軸承部件到第二軸承部件的接近度。

通過考慮詳細的描述和附圖，本發明的其它方面將變得顯而易見。

附圖說明

圖1是軸組件的透視圖。

圖2是圖1的軸組件沿著2-2并在第一狀態下的剖視圖。

圖3是圖1的軸組件沿著2-2并在第二狀態下的剖視圖。

圖4是用于確定和調節錐形滾柱軸承的軸承力的流程圖。

具體實施方式

在本公開的任何實施例被詳細地描述之前，應該理解本公開在其應用上不被限制到在下文闡述的或在附圖中圖示的構造和構件的布置的細節。本發明能夠支持其它實施例并且能以各種方式被實踐或被執行。

圖1和圖2示出根據本公開的實施例的軸組件10。軸組件10包括殼體14和延伸通過殼體14的軸18。第一軸承22和第二軸承26在殼體14的相對側定位在殼體14和軸18之間，使得軸18被相對于殼體14軸向地限制并且相對于殼體14可旋轉。殼體14和軸18兩者都通常由相同或不同的適當金屬構造。

參見圖1-3，第一軸承22和第二軸承26包括相同的構件，因此對于相同的構件重復相同的附圖標記。特別地，每個第一軸承22和第二軸承26都包括具有錐形外表面54的第一內圈或錐體50，和具有與外表面54相對的錐形內表面60的第二外圈或杯狀物58。滾柱組件62容納多個圓周分布的滾動元件66(即，滾柱)。滾柱66布置在軌道70中，軌道70形成在相應的錐體50中，并且滾柱66在相關聯的軸承22、和軸承26的錐體50和杯狀物58之間徑向地定位。錐體50和滾柱組件62一起限定第一軸承部件，而杯狀物58限定互補的第二軸承部件。