[發明專利]薄膜晶體管陣列基板及其制備方法有效
| 申請號: | 201610749723.0 | 申請日: | 2016-08-30 |
| 公開(公告)號: | CN106887436B | 公開(公告)日: | 2019-10-25 |
| 發明(設計)人: | 高逸群;施博理;張煒熾;吳逸蔚 | 申請(專利權)人: | 鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/12 | 分類號: | H01L27/12;H01L21/77 |
| 代理公司: | 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334 | 代理人: | 汪飛亞 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 薄膜晶體管 陣列 及其 制備 方法 | ||
1.一種薄膜晶體管陣列基板,其包括絕緣基板、形成于絕緣基板上的半導體層及形成于半導體層上的第二導電層,所述第二導電層形成間隔設置的源極與漏極,其特征在于:第二導電層至少包括:
第一子層,其形成于半導體層上,其材質為金屬氧化物;
第二子層,其形成于第一子層上,其材質為鋁或鋁合金;以及
第三子層,形成于第二子層上,其材質為金屬氧化物;
所述第一子層和第三子層的材質均為含鋅的金屬氧化物導電材料,且第三子層的鋅含量高于第一子層的鋅含量。
2.如權利要求1所述的薄膜晶體管陣列基板,其特征在于:所述源極與漏極之間形成有一貫穿所述第一子層、第二子層與第三子層的溝道,沿第三子層指向第一子層的方向,所述溝道的尺寸逐漸變小。
3.如權利要求1所述的薄膜晶體管陣列基板,其特征在于:所述薄膜晶體管陣列基板還包括絕緣基板、形成于絕緣基板上的柵極、形成于絕緣基板上且覆蓋柵極的柵極絕緣層;所述半導體層形成于所述柵極絕緣層上。
4.如權利要求1所述的薄膜晶體管陣列基板,其特征在于:所述薄膜晶體管陣列基板還包括一鈍化層覆蓋所述半導體層及所述第二導電層、形成在所述鈍化層上的多個像素電極,像素電極與所述漏極電性連接。
5.一種薄膜晶體管陣列基板的制備方法:
提供一絕緣基板,在所述絕緣基板上形成一半導體層;
在半導體層上形成一第一子層,第一子層的材質為金屬氧化物;
在第一子層上形成一第二子層,第二子層的材質為鋁或鋁合金;
在第二子層上形成一第三子層,所述第三子層的材質為金屬氧化物;
對所述第一子層、所述第二子層及所述第三子層進行蝕刻形成一溝道貫穿所述第一子層、所述第二子層及所述第三子層,從而使第一子層、第二子層與第三子層配合形成通過溝道得以間隔設置的源極與漏極;
其中所述第一子層和第三子層的材質均為含鋅的金屬氧化物導電材料,且第三子層的鋅含量高于第一子層的鋅含量。
6.如權利要求5所述的薄膜晶體管陣列基板的制備方法,其特征在于:沿第三子層指向第一子層的方向,所述溝道的尺寸逐漸變小。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司,未經鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610749723.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





