[發(fā)明專利]一種基于多瞄準(zhǔn)裝置的復(fù)合坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610737241.3 | 申請(qǐng)日: | 2016-08-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106352823B | 公開(公告)日: | 2018-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 錢豐;孫玉玖;武文彬;唐志鋒;何磊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào): | G01B21/00 | 分類號(hào): | G01B21/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100095*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 瞄準(zhǔn) 裝置 復(fù)合 坐標(biāo) 測(cè)量 系統(tǒng) | ||
1.一種基于多瞄準(zhǔn)裝置的復(fù)合坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng),其特征在于,包括:包括坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、激光干涉儀、電感測(cè)微儀、光電顯微鏡、機(jī)械運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)、可調(diào)整工作臺(tái)和嵌入式控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng);
坐標(biāo)測(cè)量機(jī)包括坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭系統(tǒng)、光柵系統(tǒng)以及坐標(biāo)機(jī)控制系統(tǒng);坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭系統(tǒng)的功能是探測(cè)被測(cè)件的位置并將當(dāng)前狀態(tài)反饋給坐標(biāo)測(cè)量控制系統(tǒng);光柵系統(tǒng)的功能是作為坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的長(zhǎng)度測(cè)量基準(zhǔn),給控制系統(tǒng)提供準(zhǔn)確的位置信息;坐標(biāo)機(jī)控制系統(tǒng)的功能為接收坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭系統(tǒng)反饋的被測(cè)件的位置及當(dāng)前狀態(tài)信息;坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的功能是利用X軸精密直線導(dǎo)軌、Y軸精密直線導(dǎo)軌、Z軸精密直線導(dǎo)軌、光柵系統(tǒng)、坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭系統(tǒng)、坐標(biāo)機(jī)控制系統(tǒng)、機(jī)械運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)及嵌入式控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)進(jìn)行三維尺寸測(cè)量;
激光干涉儀通過固定機(jī)構(gòu)安裝在坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的基座上,包括穩(wěn)頻激光器、干涉鏡、偏振分光鏡、聚光鏡、準(zhǔn)直鏡、反射鏡和環(huán)境傳感器;激光干涉儀采用激光波長(zhǎng)作為長(zhǎng)度測(cè)量基準(zhǔn),符合直接溯源米定義的要求;環(huán)境傳感器均勻布置在被測(cè)件上;穩(wěn)頻激光器發(fā)出的線偏振光經(jīng)由聚光鏡和準(zhǔn)直鏡后形成一束準(zhǔn)直光束,該光束由偏振分光鏡分成兩束偏振方向相互垂直的線偏振光,一束到達(dá)固定角錐反射鏡形成參考光束;另一束到達(dá)移動(dòng)角錐反射鏡形成測(cè)量光束;返回的測(cè)量光和參考光重合形成干涉信號(hào),并投射到光電系統(tǒng);光電系統(tǒng)將干涉信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào),送到嵌入式控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng);激光干涉儀的功能是利用高精度的環(huán)境傳感器對(duì)環(huán)境參數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)采集并對(duì)空氣折射率和熱膨脹的影響加以補(bǔ)償實(shí)現(xiàn)一維高精度測(cè)長(zhǎng),并將其測(cè)量的位置發(fā)送到嵌入式控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng);
電感測(cè)微儀固定在坐標(biāo)測(cè)量機(jī)Z軸上,功能是采用電感測(cè)量原理將電感測(cè)微儀連接到嵌入式控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)并使X軸精密直線導(dǎo)軌、Z軸精密直線導(dǎo)軌共同移動(dòng),當(dāng)測(cè)針上的觸頭在測(cè)量方向與被測(cè)件表面接觸時(shí),電感測(cè)微儀將觸頭壓深量轉(zhuǎn)化為電信號(hào)同時(shí)產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào),并通過嵌入式控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)讀取后轉(zhuǎn)化為位移量,并使該系統(tǒng)記錄當(dāng)前激光干涉儀的位置;
光電顯微鏡在測(cè)量端面時(shí)采用像點(diǎn)原理,利用光源在測(cè)量面上形成一縮小實(shí)像光學(xué)像點(diǎn),該像點(diǎn)恰好位于顯微鏡的物平面上;光電顯微鏡通過橋框安裝在坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的基座上;當(dāng)測(cè)量刻線時(shí),光電顯微鏡直接將刻線成像于光電接收器的狹縫上,產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào),用于光電瞄準(zhǔn);光電顯微鏡的功能為將像點(diǎn)經(jīng)顯微物鏡成像于光電接收器的狹縫上,產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào),瞄準(zhǔn)端面或刻線位置,并將該瞄準(zhǔn)狀態(tài)發(fā)送到嵌入式控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),并使該系統(tǒng)記錄當(dāng)前激光干涉儀的位置;
坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、光電顯微鏡、電感測(cè)微儀、激光干涉儀彼此間通過數(shù)據(jù)線相互連接并通過數(shù)據(jù)線連接到到嵌入式控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),同時(shí)嵌入式控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)控制復(fù)合坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)的各分系統(tǒng),采集各個(gè)系統(tǒng)的數(shù)據(jù),并計(jì)算得到相應(yīng)的測(cè)量結(jié)果;
機(jī)械運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)包括移動(dòng)工作臺(tái)、三軸精密直線導(dǎo)軌、三軸電機(jī)及驅(qū)動(dòng)裝置;三軸精密直線導(dǎo)軌分別為X軸精密直線導(dǎo)軌、Y軸精密直線導(dǎo)軌以及Z軸精密直線導(dǎo)軌;三軸電機(jī)及驅(qū)動(dòng)裝置分別為X軸電機(jī)及驅(qū)動(dòng)裝置、Y軸電機(jī)及驅(qū)動(dòng)裝置以及Z軸電機(jī)及驅(qū)動(dòng)裝置;移動(dòng)工作臺(tái)主要用來承載被測(cè)件,面積應(yīng)滿足測(cè)量的要求;三軸精密直線導(dǎo)軌、三軸電機(jī)及驅(qū)動(dòng)裝置是本系統(tǒng)的運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu),用來移動(dòng)被測(cè)件及測(cè)頭到指定位置;三軸導(dǎo)軌的直線度、垂直度應(yīng)能滿足相應(yīng)測(cè)量誤差的要求;機(jī)械運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)的功能是提供三軸準(zhǔn)確位移,即提供高精度直線運(yùn)動(dòng);可調(diào)整工作臺(tái)固定于移動(dòng)工作臺(tái)之上,其功能為用來固定被測(cè)件并調(diào)整被測(cè)件的姿態(tài);其具有兩方向調(diào)整功能,分別為調(diào)整被測(cè)件的軸線與測(cè)量軸線重合,完全符合阿貝原則,減少阿貝誤差,提高測(cè)量精度;
嵌入式控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)包括激光干涉儀、坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、機(jī)械運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)、電感測(cè)微儀、光電顯微鏡各裝置的供電電路、控制電路以及主控制器;嵌入式控制系統(tǒng)可嵌入到坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的控制系統(tǒng)中,各供電電路以及控制電路分別與激光干涉儀、坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、機(jī)械運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)、電感測(cè)微儀、光電顯微鏡各裝置相連,用來直接控制各裝置;嵌入式控制及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的功能為向各裝置發(fā)送指令并反饋狀態(tài)信息;驅(qū)動(dòng)三軸電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng),帶動(dòng)三軸移動(dòng)到其工作行程的任意位置,進(jìn)而驅(qū)動(dòng)電感測(cè)微儀、光電顯微鏡瞄準(zhǔn)被測(cè)件的被測(cè)位置,并通過反饋的結(jié)果計(jì)算被測(cè)件的坐標(biāo),進(jìn)而計(jì)算出對(duì)應(yīng)被測(cè)尺寸;切換2種測(cè)長(zhǎng)裝置光柵系統(tǒng)、激光干涉儀以及3種瞄準(zhǔn)裝置測(cè)頭系統(tǒng)、電感測(cè)微儀、光電顯微鏡,實(shí)現(xiàn)不同的測(cè)量功能。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所,未經(jīng)中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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