[發明專利]一種用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置

有效

• 申請號: 201610731201.8
• 申請日: 2016-08-26
• 公開（公告）號: CN106248206B
• 公開（公告）日: 2017-09-12
• 發明（設計）人: 應剛;黃沖;吳娜;朱剛
• 申請（專利權）人: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
• 主分類號: G01J3/02
• 分類號: G01J3/02;G01N21/01;G01N21/25
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• 代理人: 暫無信息

1.一種用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置，其特征在于, 包括分度機構、傳動機構、晶體支撐部件、支撐框架和定位機構；

所述分度機構通過所述傳動機構與所述晶體支撐部件相聯；

所述分度機構包括分度從動部件和分度主動部件，所述分度主動部件與所述分度從動部件轉動聯接；

所述傳動機構包括傳動主部件和傳動從部件；

所述分度從動部件和所述傳動機構以及所述晶體支撐部件均安裝在所述支撐框架上；

所述分度機構的分度數量與所述晶體支撐部件安裝的晶體數量相同；

所述定位機構安裝在所述支撐框架上，所述定位機構包括定位基座，定位模塊以及回彈機構；所述定位基座中心軸安裝在所述支撐框架上且具有基座定位結構，所述定位模塊一端聯接在所述支撐框架上，另一端具有模塊定位結構，所述基座定位結構與所述模塊定位結構緊密配合，所述回彈機構一端固定聯接在所述支撐框架上，另一端與所述定位模塊相聯；所述定位基座為圓盤結構，所述基座定位結構位于所述圓盤結構邊緣，所述基座定位結構為凹槽或凸起，所述模塊定位結構為與所述凹槽或凸起精確配合的定位凸起或定位凹槽；所述基座定位結構和所述模塊定位結構精密配合且所述基座定位結構數量為大于等于1的自然數，所述基座定位結構的數量與所述晶體支撐部件安裝的晶體數量一一且位置精確對應。

2.根據權利要求1所述的用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置，其特征在于，

所述晶體切換裝置還包括分度機構支撐部和動力源，所述分度主動部件安裝在所述動力源輸出軸上且與所述動力源一同安裝在所述分度機構支撐部上，所述分度從動部件安裝在所述支撐框架上：

所述分度機構水平放置，所述傳動主部件和所述分度從動部件相聯且安裝在所述支撐框架上，所述傳動主部件為端面齒輪，所述傳動從部件為直齒輪，所述端面齒輪與所述直齒輪嚙合，所述直齒輪與所述晶體支撐部件轉動聯接；

或

所述分度機構豎直放置，所述傳動主部件和所述分度從動部件相聯且安裝在所述支撐框架上，所述傳動主部件為主動直齒輪，所述傳動從部件為直齒輪，所述主動直齒輪端面與所述直齒輪端面處于平行面或同一平面上且嚙合，所述直齒輪與所述晶體支撐部件轉動聯接。

3.根據權利要求1所述的用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置，其特征在于，所述晶體支撐部件為柱型，包括n個晶體裝配結構，所述晶體裝配結構均勻分布在所述晶體支撐部件的外側面。

4.根據權利要求3所述的用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置，其特征在于，所述晶體裝配結構包括開口背離所述晶體支撐部件中心方向的第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于所述第二凹槽下方，所述第二凹槽頂部具有凸起，所述第二凹槽側面及所述凸起內側面為與晶體表面相配合的平面。

5.根據權利要求3所述的用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置，其特征在于，所述晶體支撐部件中空，且具有中軸。

6.根據權利要求4所述的用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置，其特征在于，所述晶體裝配結構的內表面安裝有具有向外彈出部件的彈性裝置，所述向外彈出部件的頂端高于所述第一凹槽的深度。

7.根據權利要求6所述的用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置，其特征在于，所述彈性裝置下端具有橫片，下部形成“L”型結構。

8.根據權利要求4所述的用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置，其特征在于，所述晶體裝配結構中形成所述第一凹槽和所述第二凹槽的兩側支板上表面為平面且具有第三凹槽。

9.根據權利要求1所述的用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置，其特征在于，所述支撐框架為立體四邊結構，包括上支撐邊、下支撐邊、左支撐邊和右支撐邊，所述上支撐邊上具有與通過所述晶體支撐部件中軸線的中軸相聯的轉動部件，所述定位基座安裝在所述晶體支撐部件的下方且與所述晶體支撐部件精確固定。

10.根據權利要求1所述的用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置，其特征在于，所述晶體切換裝置還包括動力源，所述動力源與所述分度主動部件相聯。

11.根據權利要求1所述的用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置，其特征在于，所述分度從動部件為分度盤。

12.根據權利要求1所述的用于光譜檢測具有分度機構的晶體切換裝置，其特征在于，所述分度主動部件為兩端安裝有轉動件的桿件結構。