[發明專利]一種用于光譜儀分度晶體切換裝置

有效

• 申請號: 201610731179.7
• 申請日: 2016-08-26
• 公開（公告）號: CN106248205B
• 公開（公告）日: 2017-09-12
• 發明（設計）人: 劉召貴;黃沖;吳娜;朱剛
• 申請（專利權）人: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
• 主分類號: G01J3/02
• 分類號: G01J3/02;G01N21/01;G01N21/25
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明屬于光譜儀檢測儀器領域，尤其涉及一種用于光譜儀分度晶體切換裝置。

背景技術

光譜儀需要測量數十個元素的特征譜線；而單獨一塊晶體只能檢測有限數量的特征譜線，只有通過晶體切換裝置將多個晶體逐個切換，才能實現全部譜線的測量；光譜儀是精密測量儀器，工業現場使用頻率高；這就要求晶體切換裝置切換定位精度高，動作可靠，使用壽命長；實際工作中還要求滿足真空條件下的工作需要，因此迫切需要尋找一種能夠解決此問題的晶體切換結構。

發明內容

有鑒于此，需要克服現有技術中的上述缺陷中的至少一個，本發明提供了一種用于光譜儀分度晶體切換裝置。

所述一種用于光譜儀分度晶體切換裝置包括分度機構，傳動機構，晶體支撐部件，支撐框架，定位機構； 所述分度機構通過所述傳動機構與所述晶體支撐部件相聯；所述分度機構包括分度從動部件和分度主動部件，所述分度主動部件與所述分度從動部件轉動聯接；所述傳動機構包括傳動主部件和傳動從部件；所述分度從動部件和所述傳動機構以及所述晶體支撐部件均安裝在所述支撐框架上；所述分度機構的分度數量與所述晶體支撐部件安裝的晶體數量相同；所述定位機構安裝在所述支撐框架上，所述定位機構中的定位位置與所述晶體支撐部件安裝所述晶體的位置一一對應且精確對應。

根據本專利背景技術中對現有技術所述，在光譜儀測量元素的特征譜線時，由于有幾十種元素，而單個晶體只能測量有限數量的特征譜線，因此只能通過晶體切換裝置將多個晶體逐漸切換，而對于切換前后晶體的位置總是存在較大的誤差；而本發明公開的一種用于光譜檢測的晶體切換裝置，通過采用分度機構、晶體支撐部件和定位機構的結合，在完成切換晶體的同時還保證了晶體的定位精度，且動作過程可靠，并使檢測裝置壽命在工業現場頻繁使用下都能增加，因此具有明顯的優點。

另外，根據本發明公開的用于光譜儀分度晶體切換裝置還具有如下附加技術特征：

進一步地，所述晶體切換裝置還包括分度機構支撐部和動力源，所述分度主動部件安裝在所述動力源輸出軸上且與所述動力源一同安裝在所述分度機構支撐部上，所述分度從動部件安裝在所述支撐框架上：

所述分度機構水平放置，所述傳動主部件和所述分度從動部件相聯且安裝在所述支撐框架上，所述傳動主部件為端面齒輪，所述傳動從部件為直齒輪，所述端面齒輪與所述直齒輪嚙合，所述直齒輪與所述晶體支撐部件轉動聯接；

或

所述分度機構豎直放置，所述傳動主部件和所述分度從動部件相聯且安裝在所述支撐框架上，所述傳動主部件為主動直齒輪，所述傳動從部件為直齒輪，所述主動直齒輪端面與所述直齒輪端面處于平行面或同一平面上且嚙合，所述直齒輪與所述晶體支撐部件轉動聯接。

進一步地，所述晶體支撐部件為柱型，包括n個晶體裝配結構，所述晶體裝配結構均勻分布在所述晶體支撐部件的外側面。

更進一步地，所述晶體裝配結構包括開口背離所述晶體支撐部件中心方向的第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于所述第二凹槽下方，所述第二凹槽頂部具有凸起，所述第二凹槽側面及所述凸起內側面為與晶體表面相配合的平面。

優選地，所述晶體支撐部件中空，且具有中軸。

更進一步地，所述晶體裝配結構的內表面安裝有具有向外彈出部件的彈性裝置，所述向外彈出部件的頂端高于所述第一凹槽的深度。

可選地，所述彈性裝置下端具有橫片，下部形成“L”型結構。

更進一步地，所述晶體裝配結構中形成所述第一凹槽和所述第二凹槽的兩側支板上表面為平面且具有第三凹槽。

進一步地，所述支撐框架為立體四邊結構，包括上支撐邊，下支撐邊，左支撐邊，右支撐邊，所述上支撐邊上具有與通過所述晶體支撐部件中軸線的中軸相聯的轉動部件，所述定位基座安裝在所述晶體支撐部件的下方且與所述晶體支撐部件精確固定。

進一步地，所述晶體切換裝置還包括動力源，所述動力源與所述分度主動部件相聯。

進一步地，所述分度從動部件為分度盤。

進一步地，所述分度主動部件為兩端安裝有轉動件的桿件結構。