[發明專利]顆粒物測量值的校準方法及裝置有效
| 申請號： | 201610729751.6 | 申請日： | 2016-08-25 |
| 公開（公告）號： | CN106370570B | 公開（公告）日： | 2020-07-10 |
| 發明（設計）人： | 孟亞楠;劉鐵俊;劉東旭 | 申請（專利權）人： | 北京小米移動軟件有限公司;北京智米科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N15/06 | 分類號： | G01N15/06 |
| 代理公司： | 北京尚倫律師事務所 11477 | 代理人： | 代治國 |
| 地址： | 100085 北京市海淀區清河*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 顆粒 測量 校準 方法 裝置 | ||
【權利要求書】：
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