[發(fā)明專利]基于矩陣選通TR組件幅相的測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610728764.1 | 申請日： | 2016-08-25 |
| 公開（公告）號： | CN106443599B | 公開（公告）日： | 2018-09-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 譚博;張杰;張靜;張文寶;伍懷琪;張紹華;延偉勤 | 申請（專利權(quán)）人： | 零八一電子集團有限公司 |
| 主分類號： | G01S7/40 | 分類號： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 成飛(集團)公司專利中心 51121 | 代理人： | 郭純武 |
| 地址： | 628017*** | 國省代碼： | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 矩陣 tr 組件 測試 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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