[發明專利]一種用于磁瓦暗開裂的檢測裝置及其實現方法在審
| 申請號： | 201610723240.3 | 申請日： | 2016-08-24 |
| 公開（公告）號： | CN106338468A | 公開（公告）日： | 2017-01-18 |
| 發明（設計）人： | 張海南;厲力波;林百煌;楊海濤;牛利博;柳欣 | 申請（專利權）人： | 橫店集團東磁股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N19/08 | 分類號： | G01N19/08 |
| 代理公司： | 廣州市華學知識產權代理有限公司44245 | 代理人： | 張金剛 |
| 地址： | 322118 浙江*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 磁瓦暗 開裂 檢測 裝置 及其 實現 方法 | ||
【說明書】：
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