[發明專利]一種微波探測系統及方法有效
| 申請號： | 201610716125.3 | 申請日： | 2016-08-24 |
| 公開（公告）號： | CN106323994B | 公開（公告）日： | 2019-03-01 |
| 發明（設計）人： | 周忠祥;吳憂;施扣忠;李均;袁承勛 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號： | G01N22/00 | 分類號： | G01N22/00 |
| 代理公司： | 哈爾濱市文洋專利代理事務所(普通合伙) 23210 | 代理人： | 范欣 |
| 地址： | 150001 黑龍*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 微波探測系統 微波 外電場 探測 共面波導 磁分量 異質結 硅基 施加 一一對應關系 電場控制 高頻電路 共振頻率 設備成本 鐵磁共振 微波波導 微波頻率 微波相位 線性系數 相位分辨 電磁波 集成化 靜磁場 旋磁比 標定 | ||
【權利要求書】：
1.微波探測方法，其特征在于包括如下步驟：
對微波探測系統施加外電場E，并進行電場控制調節標定，建立外電場E與共振頻率的一一對應關系f(E)＝γ(H0+kE)，其中H0為外加靜磁場強度，γ為電子旋磁比，E為外電場的電場強度，k為線性系數，然后對微波探測系統施加未知微波；
獲取微波頻率的步驟，對已施加未知微波的微波探測系統進行電場掃描，獲得出現微波功率吸收峰處的電場強度E1，根據外電場E與共振頻率的對應關系f(E1)＝γ(H0+k E1)，獲得被探測微波的頻率f(E1)；
獲取微波方向的步驟，對已施加未知微波的微波探測系統進行電場掃描，獲得出現微波功率吸收峰處的電場強度E1，構建外電場E與共振頻率的關系f(E1)＝γ(H0+kE)sinθ，θ為未知微波入射方向與總磁場H方向的夾角，即獲得微波方向；
獲取微波相位的步驟，對已施加未知微波的微波探測系統進行電阻測量，所述電阻測量為測量鐵磁薄膜的電阻；獲得電阻的相位變化，微波相位與電阻變化相位一致，即獲得微波相位；
所述微波探測系統包括多鐵異質結和硅基共面波導，所述硅基共面波導上設置多鐵異質結；所述多鐵異質結為鐵磁金屬薄膜和鐵電單晶進行層狀復合而成的多鐵異質結。
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