[發明專利]一種提高多晶硅雙面太陽能電池背面開壓的鍍膜工藝有效
| 申請號: | 201610709302.5 | 申請日: | 2016-08-24 |
| 公開(公告)號: | CN106328759B | 公開(公告)日: | 2018-03-02 |
| 發明(設計)人: | 趙科巍;郭衛;王恩宇;申開愉;張之棟;張波 | 申請(專利權)人: | 山西潞安太陽能科技有限責任公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 太原市科瑞達專利代理有限公司14101 | 代理人: | 李富元 |
| 地址: | 046000 山*** | 國省代碼: | 山西;14 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 提高 多晶 雙面 太陽能電池 背面 鍍膜 工藝 | ||
1.一種提高多晶硅太陽能電池背面開壓的鍍膜工藝,其特征在于按照如下的步驟進行:
步驟一、將多晶硅片基材和純銀靶材置于等離子合金化爐內,抽真空至0.5Pa后,通入NH3,氣壓控制在35Pa,同時開啟工件電源和源極電源,使工件電壓高于源極電壓,壓差保持250V,緩慢升高電壓,溫度升至930℃后,保溫30min,對工件兩面分別進行濺射2-4秒,使在多晶硅片背面表面形成一層銀硅摻雜層;
步驟二、將溫度降到430℃-450℃進行PECVD鍍膜,底層膜鍍膜時,SiH4氣體流量為3.6slm,NH3的氣體流量為1100sccm,鍍膜時間150s,射頻功率為5650W,頂層膜鍍膜時,SiH4氣體流量為6.8slm,NH3的氣體流量為680sccm,鍍膜時間150s,射頻功率為5650W。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





