[發(fā)明專利]一種無空間效應的次臨界度逆動態(tài)測量方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610708257.1
• 申請日: 2016-08-23
• 公開（公告）號: CN106297920B
• 公開（公告）日: 2018-01-05
• 發(fā)明（設計）人: 張瀟湘;吳宜燦;胡麗琴;楊琪;宋婧
• 申請（專利權）人: 中國科學院合肥物質科學研究院
• 主分類號: G21C17/104
• 分類號: G21C17/104
• 代理公司: 北京科迪生專利代理有限責任公司11251
• 代理人: 楊學明,顧煒

1.一種無空間效應的次臨界度逆動態(tài)測量方法，能夠實現次臨界系統(tǒng)次臨界度的在線測量，其特征在于實現步驟如下：

步驟(1)、根據次臨界堆芯設計，計算固定源模式下不同反應堆狀態(tài)i、不同空間位置處中子通量密度j，將同一狀態(tài)下的中子通量密度進行歸一化為中子通量密度形狀函數即選擇反應堆狀態(tài)發(fā)生變化后中子通量密度形狀函數值不變的位置布置探測器；

步驟(2)、通過脈沖中子源法或跳源法確定次臨界堆芯的次臨界度ρ_$，記錄次臨界系統(tǒng)穩(wěn)態(tài)外源驅動下探測器處中子通量密度p(0)，以刻度次臨界逆動態(tài)公式中的外中子源項s(t)；

步驟(3)、通過探測器讀數獲取反應堆狀態(tài)改變時的中子通量密度時序數據p(t)輸入次臨界逆動態(tài)公式(1-12)中實現次臨界度測量，

(1-12)ρ(t)β=1+Λβdp(t)p(t)dt-1βp(t)ΣkλkCk(t0)e-λk(t-t0)-1βp(t)Σkλkβk∫t0tp(ζ)e-λk(t-ζ)dζ-s(t)βp(t)]]>

其中，t為時間，t₀為初始時刻，p(t)為隨時間t變化的中子通量密度，p(ζ)為隨時間ζ變化的中子通量密度，ζ從t₀到t之間變化，C_k(t₀)為第k組緩發(fā)中子先驅核濃度，s(t)為外中子源項，λ_k為第k組緩發(fā)中子先驅核衰變常數，ρ(t)為次臨界度，β為總有效緩發(fā)中子份額，β_k為第k組有效緩發(fā)中子份額，Λ為中子代時間；

步驟(1)具體為：通過程序計算固定源模式下，不同反應堆狀態(tài)i、不同空間位置處中子通量密度j，將同一狀態(tài)下的中子通量密度進行歸一化為中子通量密度形狀函數即選擇反應堆狀態(tài)發(fā)生變化后中子通量密度形狀函數值不變的位置布置探測器，以滿足次臨界逆動態(tài)公式導出所采用的假設條件：K為常數，Φ_λ0^*為初始λ模式伴隨通量，下標“0”代表初始狀態(tài)，υ為中子速度，為中子通量密度形狀函數，使得測量結果不受中子通量密度空間分布變化的影響。

2.根據權利要求1所述的一種無空間效應的次臨界度逆動態(tài)測量方法，其特征在于：步驟(2)中，根據脈沖中子源法或跳源法確定的堆芯初始次臨界度ρ_$和次臨界系統(tǒng)穩(wěn)態(tài)外源驅動下的探測器處中子通量密度p(0)，利用次臨界逆動態(tài)公式導出外中子源刻度公式：s＝-p(0)βρ_$。