[發明專利]一種SF6開關柜的氦質譜檢漏的方法在審
| 申請號： | 201610703759.5 | 申請日： | 2016-08-22 |
| 公開（公告）號： | CN106370359A | 公開（公告）日： | 2017-02-01 |
| 發明（設計）人： | 朱長平 | 申請（專利權）人： | 安徽皖儀科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01M3/20 | 分類號： | G01M3/20 |
| 代理公司： | 安徽合肥華信知識產權代理有限公司34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 sf6 開關柜 氦質譜 檢漏 方法 | ||
【說明書】：
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