[發明專利]一種高功率光纖激光器用低反光柵反射率精確測量裝置

在審

• 申請號: 201610701948.9
• 申請日: 2016-08-22
• 公開（公告）號: CN107764514A
• 公開（公告）日: 2018-03-06
• 發明（設計）人: 沈華;葛詩雨;朱日宏;韓志剛;湯亞洲;尹路;孟令強;李雪;李登科;黃哲強;閆明鑒;張秋庭
• 申請（專利權）人: 南京理工大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 南京理工大學專利中心32203
• 代理人: 朱沉雁

1.一種高功率光纖激光器用低反光柵反射率精確測量裝置，其特征在于：包括寬帶光源（1）、單模環形器（2）、模場匹配器（3）、第一法蘭盤（4）、第二法蘭盤（5）、繞線柱（6）、光譜儀（7）和低反射率光纖光柵（8），所述寬帶光源（1）的輸出端通過第一法蘭盤（4）與單模環形器（2）的1端口連接，單模環形器（2）的3端口與光譜儀（7）連接，單模環形器（2）的2端口通過第二法蘭盤（5）與模場匹配器（3）的單模端連接，模場匹配器（3）的多模端與低反射率光纖光柵（8）的一端熔接，低反射率光纖光柵（8）另一端盤繞在繞線柱（6）上。

2.根據權利要求1所述的高功率光纖激光器用低反光柵反射率精確測量裝置，其特征在于：所述寬帶光源（1）波長范圍為1035-1550nm，輸出端為FC/APC接口。

3.根據權利要求1所述的高功率光纖激光器用低反光柵反射率精確測量裝置，其特征在于：所述單模環形器（2）的接口類型均為FC/APC接口。

4.根據權利要求1所述的高功率光纖激光器用低反光柵反射率精確測量裝置，其特征在于：所述模場匹配器（3）的單模端為熔接了FC/APC接口的HI1060單模光纖，用于連接第二法蘭盤（5），多模端為20/400、0.46NA雙包層光纖。

5.根據權利要求1所述的高功率光纖激光器用低反光柵反射率精確測量裝置，其特征在于：所述第一法蘭盤（4）和第二法蘭盤（5）均采用FC型。

6.根據權利要求1所述的高功率光纖激光器用低反光柵反射率精確測量裝置，其特征在于：所述繞線柱（6）直徑為67mm~80mm。

7.根據權利要求1所述的高功率光纖激光器用低反光柵反射率精確測量裝置，其特征在于：所述光譜儀（7）的測量范圍為600-1700nm、最高分辨率為0.02nm。

8.根據權利要求1所述的高功率光纖激光器用低反光柵反射率精確測量裝置，其特征在于：所述低反射率光纖光柵（8）的反射率為8% ~15%，纏繞在繞線柱（6）上的一端的端面為平整切割面。

9.根據權利要求8所述的高功率光纖激光器用低反光柵反射率精確測量裝置，其特征在于：所述低反射率光纖光柵（8）的平整切割面通過光纖切割刀實現，切割角度通過光纖熔接機觀察獲得，切割角度應小于0.5°。