[發明專利]面向輻射和散射的稀疏排布陣列天線結構公差的確定方法有效
| 申請號： | 201610701717.8 | 申請日： | 2016-08-22 |
| 公開（公告）號： | CN106354909B | 公開（公告）日： | 2019-02-19 |
| 發明（設計）人： | 王從思;顏語喆;胡核算;許謙;周金柱;朱誠;王偉;宋立偉;段寶巖;平麗浩;袁帥 | 申請（專利權）人： | 西安電子科技大學 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 西安通大專利代理有限責任公司 61200 | 代理人： | 徐文權 |
| 地址： | 710065 陜*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 面向 輻射 散射 稀疏 排布 陣列 天線 結構 公差 確定 方法 | ||
【說明書】：
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