[發明專利]低照度CMOS芯片性能測試系統在審
| 申請號： | 201610700230.8 | 申請日： | 2016-08-22 |
| 公開（公告）號： | CN106405382A | 公開（公告）日： | 2017-02-15 |
| 發明（設計）人： | 錢蕓生;葉瓊;郭一亮;朱波;王琦;林宇軒;徐華 | 申請（專利權）人： | 南京理工大學 |
| 主分類號： | G01R31/308 | 分類號： | G01R31/308;G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京理工大學專利中心32203 | 代理人： | 陳鵬,朱顯國 |
| 地址： | 210094 江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 照度 cmos 芯片 性能 測試 系統 | ||
【權利要求書】：
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