[發明專利]一種納米微區阻抗原位測量技術在審
| 申請號： | 201610695354.1 | 申請日： | 2016-08-19 |
| 公開（公告）號： | CN106353368A | 公開（公告）日： | 2017-01-25 |
| 發明（設計）人： | 楊海燕;陳驍;高峻;法蕓;包艷 | 申請（專利權）人： | 中國科學院青島生物能源與過程研究所 |
| 主分類號： | G01N27/02 | 分類號： | G01N27/02;G01Q60/24 |
| 代理公司： | 北京國智京通知識產權代理有限公司11501 | 代理人： | 孫文彬 |
| 地址： | 266200 山*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 納米 阻抗 原位 測量 技術 | ||
【權利要求書】：
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