[發明專利]任意交流載波下的電容特性測量設備及其測量方法有效
| 申請號： | 201610691763.4 | 申請日： | 2016-08-20 |
| 公開（公告）號： | CN106199285B | 公開（公告）日： | 2023-05-16 |
| 發明（設計）人： | 陳為;陳慶彬;謝靜逸;張偉豪 | 申請（專利權）人： | 福州大學 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00;G01R27/02 |
| 代理公司： | 福州元創專利商標代理有限公司 35100 | 代理人： | 蔡學俊 |
| 地址： | 350108 福建省福州市*** | 國省代碼： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 任意 交流 載波 電容 特性 測量 設備 及其 測量方法 | ||
【說明書】：
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