[發明專利]殺菌鍍膜膜層結構及其制備方法有效
| 申請號: | 201610687620.6 | 申請日: | 2016-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN106291783B | 公開(公告)日: | 2018-01-09 |
| 發明(設計)人: | 許遠飛;周旭華;李頂雄;周全 | 申請(專利權)人: | 天通(嘉興)新材料有限公司 |
| 主分類號: | G02B1/18 | 分類號: | G02B1/18 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 314005 *** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 殺菌 鍍膜 結構 方法 | ||
1.殺菌鍍膜膜層結構,其特征在于:包括用于設于基體(110)表面的膜層本體(120),膜層本體(120)包括至少一層膜層單元,膜層單元包括在遠離基體(110)表面的方向上依次層疊的膜層單元組件層A和膜層單元組件層B,膜層單元組件層A的材質為二氧化硅,膜層單元組件層B的材質為氯化銀。
2.根據權利要求1所述的殺菌鍍膜膜層結構,其特征在于:所述至少一層膜層單元的數量為3個,分別為在遠離基體(110)表面的方向上依次層疊第一膜層單元、第二膜層單元和第三膜層單元。
3.根據權利要求2所述的殺菌鍍膜膜層結構,其特征在于:第一膜層單元包括第一膜層單元組件層A(121)和第一膜層單元組件層B(122),第一膜層單元組件層A(121)的厚度為95.42nm,和第一膜層單元組件層B(122)的厚度為5.46nm;
第二膜層單元包括第二膜層單元組件層A(123)和第二膜層單元組件層B(124),第二膜層單元組件層A(123)的厚度為61.46nm,第二膜層單元組件層B(124)的厚度為34.88nm;
第三膜層單元包括第三膜層單元組件層A(125)和第三膜層單元組件層B(126),第三膜層單元組件層A(125)的厚度為16.40nm,第三膜層單元組件層B(126)的厚度為69.91nm。
4.一種殺菌鍍膜模層的制備方法,其包括以下步驟:
(1)在基體表面鍍一層第一膜層單元組件層A(121),第一膜層單元組件層A(121)的材質為二氧化硅、厚度為95.42nm;
(2)在第一膜層單元組件層A(121)表面鍍一層第一膜層單元組件層B(122),第一膜層單元組件層B(122)的材質為氯化銀、厚度為5.46nm;
(3)在第一膜層單元組件層B(122)表面鍍一層第二膜層單元組件層A(123),第二膜層單元組件層A(123)的材質為二氧化硅、厚度為61.46nm;
(4)在第二膜層單元組件層A(123)表面鍍一層第二膜層單元組件層B(124),第二膜層單元組件層B(124)的材質為氯化銀、厚度為34.88nm;
(5)在第二膜層單元組件層B(124)表面鍍一層第三膜層單元組件層A(125),第三膜層單元組件層A(125)的材質為二氧化硅、厚度為16.40nm;
(6)在第三膜層單元組件層A(125)表面鍍一層第三膜層單元組件層B(126),第三膜層單元組件層B(126)的材質為氯化銀、厚度為69.91nm。
5.根據權利要求4所述的殺菌鍍膜模層的制備方法,其特征在于:步驟(1)~(6)中的鍍膜方法采用蒸發鍍膜方法或磁控濺射鍍膜方法。
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