[發(fā)明專利]一種測量密封面動環(huán)微位移的系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610686511.2 | 申請日: | 2016-08-18 |
| 公開(公告)號: | CN106323186B | 公開(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發(fā)明(設計)人: | 歐中華;汪豫;賈敏;龔小進;王剛;劉永 | 申請(專利權(quán))人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | G01B11/14 | 分類號: | G01B11/14 |
| 代理公司: | 成都弘毅天承知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51230 | 代理人: | 徐金瓊 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 動環(huán) 高溫光纖 光環(huán)行器 密封面 微位移 鎧裝 光譜儀 現(xiàn)場測量裝置 信號處理裝置 安全區(qū)裝置 測量 上夾具 輸出端 下夾具 探頭 靜環(huán) 光源 機械密封結(jié)構(gòu) 精密測量技術(shù) 夾具 輸入端 法蘭 監(jiān)測 統(tǒng)一 | ||
一種測量密封面動環(huán)微位移的系統(tǒng),屬于位移精密測量技術(shù)領域,解決機械密封結(jié)構(gòu)空間較小、溫度高、環(huán)境復雜,難以精確的監(jiān)測密封面動環(huán)微位移的問題。本發(fā)明包括靜環(huán)和動環(huán),現(xiàn)場測量裝置和安全區(qū)裝置;所述現(xiàn)場測量裝置包括設置在靜環(huán)上的下夾具、設置在下夾具上的上夾具、設置在上夾具和下夾具之內(nèi)的鎧裝高溫光纖探頭、與鎧裝高溫光纖探頭相連接的鎧裝高溫光纖和設置在動環(huán)上的法蘭;所述安全區(qū)裝置包括光源、光環(huán)行器、光譜儀和信號處理裝置,所述光源的輸出端與光環(huán)行器的1端口相連接,鎧裝高溫光纖與光環(huán)行器的2端口相連接,光譜儀的輸入端與光環(huán)行器的3端口相連接,光譜儀的輸出端與信號處理裝置的輸入端相連接。用于測量密封面動環(huán)微位移。
技術(shù)領域
一種測量密封面動環(huán)微位移的系統(tǒng),用于測量密封面動環(huán)微位移,屬于位移精密測量 技術(shù)領域。
背景技術(shù)
1855年機械密封技術(shù)發(fā)明以來,隨著對于密封理論及其應用的深入研究,機械密封在 工業(yè)領域中的應用也越來越廣。旋轉(zhuǎn)軸軸端的密封一般使用流體動壓式機械密封,在動環(huán) 與靜環(huán)之間加入液體或氣體工作介質(zhì),由于流體靜壓和動壓效應,在密封環(huán)之間形成具有 一定剛度的液體或氣體薄膜,使兩密封面可以非接觸運轉(zhuǎn)。同時由于膜厚很小,可以限制 流體泄漏,起到密封作用。
密封的性能與穩(wěn)定性,直接關(guān)系到機械設備的正常運行。一旦密封性能下降甚至失效, 可能導致工作介質(zhì)或者是潤滑液的泄漏,輕則影響機械設備工作性能,重則產(chǎn)生顯著的磨 損,使設備壽命縮短乃至發(fā)生損壞。然而,動環(huán)在運行過程中會受到振動或者轉(zhuǎn)速的影響, 在軸向上產(chǎn)生位移,使得密封膜膜厚發(fā)生變化。膜厚過小,密封面磨損和功耗都會增大; 膜厚過大,又會造成工作介質(zhì)的泄漏變大。因此,對密封面動環(huán)微位移的監(jiān)測則顯得尤其 重要。
常用的位移傳感器主要有:電感式位移傳感器、電渦流位移傳感器、電容式位移傳感 器、光柵式位移傳感器。電感式位移傳感器為接觸式位移傳感器,由于密封系統(tǒng)本身有一 定的振動,這將嚴重影響接觸測量的精度,而且在有振動的情況下,電感響應時間很難達 到測量的要求;電渦流式位移傳感器為非接觸測量,比接觸式測量更準確,但它的使用受 很多因素限制,它的工作對象必須是金屬導體,而且易受環(huán)境雜散磁場的干擾,需要屏蔽 措施;光柵式位移傳感器和激光位移傳感器為非接觸式測量,且具有較高的測量精度,但 由于密封結(jié)構(gòu)的特殊性,沒有足夠的安裝空間,難于滿足該傳感器的安裝要求。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對上述不足之處提供了一種測量密封面動環(huán)微位移的系統(tǒng),解決現(xiàn)有技術(shù)中 機械密封結(jié)構(gòu)空間較小、溫度高、環(huán)境復雜,難以精確的監(jiān)測密封面動環(huán)微位移的問題。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:
一種測量密封面動環(huán)微位移的系統(tǒng),包括靜環(huán)和動環(huán),其特征在于:包括現(xiàn)場測量裝 置和安全區(qū)裝置;
所述現(xiàn)場測量裝置包括設置在靜環(huán)上的下夾具、設置在下夾具上的上夾具、設置在上 夾具和下夾具之內(nèi)的鎧裝高溫光纖探頭、與鎧裝高溫光纖探頭相連接的鎧裝高溫光纖和設 置在動環(huán)上的法蘭;
所述安全區(qū)裝置包括光源、光環(huán)行器、光譜儀和信號處理裝置,所述光源的輸出端與 光環(huán)行器的1端口相連接,鎧裝高溫光纖與光環(huán)行器的2端口相連接,光譜儀的輸入端與光環(huán)行器的3端口相連接,光譜儀的輸出端與信號處理裝置的輸入端相連接。
進一步,所述鎧裝高溫光纖探頭包括自聚焦透鏡,自聚焦透鏡的一端上鍍設的反射膜, 另一端上連接的高溫光纖,高溫光纖尾部上套設的不銹鋼波紋管,自聚焦透鏡、反射膜和 自聚焦透鏡一端的不銹鋼波紋管上套設的不銹鋼套管。
進一步,所述自聚焦透鏡與高溫光纖、自聚焦透鏡、反射膜和自聚焦透鏡一端的不銹 鋼波紋管與不銹鋼套管之間采用高溫耐腐蝕粘合劑進行粘接。
進一步,所述光源發(fā)出波長范圍為可見光到中紅外波段的光束。
進一步,所述鎧裝高溫光纖探頭與上夾具和下夾具之間為卯榫結(jié)構(gòu)。
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