[發(fā)明專利]基于開關(guān)矩陣的微波組件開關(guān)響應(yīng)時間量測試裝置及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610681264.7 | 申請日： | 2016-08-17 |
| 公開（公告）號： | CN106371005A | 公開（公告）日： | 2017-02-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 徐寶令;丁志釗;孫運臻;曹晉;單梅林 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國電子科技集團公司第四十一研究所 |
| 主分類號： | G01R31/327 | 分類號： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 濟南圣達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司37221 | 代理人： | 張勇 |
| 地址： | 266555 山東省*** | 國省代碼： | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 開關(guān) 矩陣 微波 組件 響應(yīng) 時間 測試 裝置 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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