[發(fā)明專利]一種基于伯努利效應(yīng)的底座及外延設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610670487.3 | 申請日: | 2016-08-15 |
| 公開(公告)號: | CN107761165A | 公開(公告)日: | 2018-03-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉源;汪燕 | 申請(專利權(quán))人: | 上海新昇半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 主分類號: | C30B25/12 | 分類號: | C30B25/12 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙)31219 | 代理人: | 劉星 |
| 地址: | 201306 上海市浦東*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 伯努利 效應(yīng) 底座 外延 設(shè)備 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,涉及一種基于伯努利效應(yīng)的底座及外延設(shè)備。
背景技術(shù)
目前眾多功率器件廠商正從8寸工廠(fab)逐漸過渡至12寸工廠(fab),為滿足功率器件襯底的要求,12寸Si襯底需要有單層或多層厚度大于20um的外延層。然而,現(xiàn)有的12寸單片Si外延技術(shù)在生長厚外延Si層(>20um)時,存在如下幾個缺點:1、由于Si外延生長速率較慢,一般<5um/min,因此在生長厚膜時,由于單個外延爐內(nèi)僅能放置一片Si襯底,因此產(chǎn)量較低。2、隨著外延層厚度的增加,晶圓(wafer)和底座(susceptor)之間容易發(fā)生粘附(stick)現(xiàn)象,造成取片困難。
如圖1所示,顯示為現(xiàn)有技術(shù)中生長Si外延層的示意圖,其中,底座101放置于生長腔室102內(nèi),晶圓103放置于所述底座101上,所述生長腔室外部上方及下方均設(shè)有加熱燈管104,Si外延層105在所述晶圓103(Si襯底)表面生長。圖中箭頭示出了熱傳導(dǎo)方向。由于晶圓103與底座101之間有接觸,且晶圓正面存在加熱燈管的直接加熱,底座表面也會生長Si層,造成底座與晶圓粘附在一起,在取片過程中造成取片困難,且容易造成Si外延層邊緣翹曲。
為解決產(chǎn)量較低的問題,AMAT公司的外延爐采用一種群(cluster)多腔室的設(shè)計,即多個腔室(chamber)共用一個加料室(transfer chamber),由此提高產(chǎn)能。如圖2所示,顯示為這種群多腔室的結(jié)構(gòu)示意圖,其中,第一腔室、第二腔室、第三腔室及第四腔室共用一個加料室。但是這種設(shè)計的本質(zhì)是將幾個腔室合在一個機臺,每個腔室仍然只能放置一片晶圓,沒有從根本上解決問題。
為解決粘片的問題,通常需要將較厚的外延膜進行分次生長。例如,對于60um的外延層,需要分三次,單次20um進行生長,每層外延膜生長之間,晶圓需要傳送出反應(yīng)腔室(reactor),并對腔室內(nèi)及底座表面進行HCl刻蝕以去除Si層。如圖3所示,顯示為將厚外延層分為n次生長的示意圖。這種方法雖然可以解決粘片問題,但是腔室蝕刻以及多次升溫降溫將會耗費很多時間,導(dǎo)致產(chǎn)率大大降低。
因此,如何提供一種新的底座及外延設(shè)備,以避免晶圓與底座之間的粘片問題,并提高產(chǎn)率,成為本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的一個重要技術(shù)問題。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點,本發(fā)明的目的在于提供一種基于伯努利效應(yīng)的底座及外延設(shè)備,用于解決現(xiàn)有技術(shù)中生長厚外延層時產(chǎn)率交底、并容易引起粘片的問題。
為實現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的,本發(fā)明提供一種基于伯努利效應(yīng)的底座,包括底座主體及設(shè)于所述底座主體背面的支撐桿,其中:
所述底座主體內(nèi)部設(shè)有空腔;
所述支撐桿中設(shè)有與所述空腔連通的噴射氣體供氣孔;
所述底座主體正面設(shè)有若干與所述空腔連通的噴射氣體出氣孔;所述噴射氣體出氣孔向所述底座主體外側(cè)傾斜,用于從所述底座主體正面向所述底座主體外側(cè)噴射氣體,使所述底座主體正面氣壓降低,利用伯努利效應(yīng)將晶圓吸附于所述底座主體正面。
可選地,所述噴射氣體出氣孔靠近所述底座正面邊緣區(qū)域。
可選地,所述底座主體內(nèi)部設(shè)有N套獨立設(shè)置的所述空腔,其中,N為大于1的整數(shù);所述支撐桿中相應(yīng)設(shè)有N個所述噴射氣體供應(yīng)孔,這N個噴射氣體供應(yīng)孔分別與相應(yīng)的一個空腔連通;所述底座主體正面的若干所述噴射氣體出氣孔分為N組,每組噴射氣體出氣孔分別與相應(yīng)的一個空腔連通。
可選地,2≤N≤5。
可選地,所述空腔包括至少兩條管路。
可選地,所述空腔包括一條環(huán)形管路及至少一條條形管路;所述環(huán)形管路與所述噴射氣體出氣孔連通,所述條形管路的一端連通所述環(huán)形管路,另一端連通所述噴射氣體供氣孔。
本發(fā)明還提供一種外延設(shè)備,所述外延設(shè)備包括上述任意一項所述的基于伯努利效應(yīng)的底座。
可選地,所述外延設(shè)備包括石英腔室;所述石英腔室中設(shè)有兩個所述基于伯努利效應(yīng)的底座;這兩個基于伯努利效應(yīng)的底座正面相對,分別位于所述石英腔室上部與下部。
可選地,兩個基于伯努利效應(yīng)的底座的支撐桿分別穿通所述石英腔室的頂面與底面。
可選地,所述石英腔室包括反應(yīng)氣體進氣口及反應(yīng)氣體尾氣口;所述反應(yīng)氣體進氣口及反應(yīng)氣體尾氣口分別設(shè)于所述石英腔室的一對相對側(cè)面上,且當(dāng)所述石英腔室水平放置時,所述反應(yīng)氣體進氣口所在水平面及所述反應(yīng)氣體尾氣口所在水平面均位于兩個基于伯努利效應(yīng)的底座之間。
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