[發明專利]嵌入式軟件的單參數事件序列測試數據生成方法有效
| 申請號： | 201610663751.0 | 申請日： | 2016-08-12 |
| 公開（公告）號： | CN106095692B | 公開（公告）日： | 2018-07-03 |
| 發明（設計）人： | 魏長安;孫超;盛云龍;姜守達 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號： | G06F11/36 | 分類號： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109 | 代理人： | 楊立超 |
| 地址： | 150001 黑龍*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 向量 測試數據 事件交互 測試數據生成 嵌入式軟件 事件序列 單參數 覆蓋 刪除 嵌入式軟件測試 輸出測試數據 系統測試數據 時序問題 隨機挑選 初始化 集合 追加 | ||
【權利要求書】：
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