[發明專利]電機轉速測試方法及測試組件

在審

• 申請號: 201610661873.6
• 申請日: 2016-08-14
• 公開（公告）號: CN107727881A
• 公開（公告）日: 2018-02-23
• 發明（設計）人: 謝偉;張竣
• 申請（專利權）人: 深圳東明機電股份有限公司
• 主分類號: G01P3/36
• 分類號: G01P3/36
• 代理公司: 深圳市睿智專利事務所44209
• 代理人: 陳鴻蔭,邢海兵

技術領域

本發明涉及檢驗測試方法及裝置，特別是涉及對電機進行轉速測試的方法及裝置。

背景技術

現有技術用于出廠電機或者電機質檢的電機轉速波形測試方法是在電機測試電路中串聯一個大功率低阻值的采樣電阻對電流取樣，在采樣電阻兩端接入示波器，通過采樣電阻兩端波形來確定電機轉速?，F有技術電機轉速測試方法需要根據被測電機的額定電壓和電流參數確定采樣電阻的阻值，并更換相應阻值的采樣電阻，測試過程較繁雜，易造成采樣電阻損壞。另外，當長時間采用同一采樣電阻進行測試，電阻容易發熱而造成示波器的波形失真，降低測試精確度。

發明內容

本發明要解決的技術問題在于避免現有技術的不足之處而提出一種使轉速測試電路與電機測試電路完全隔離的電機轉速測試方法，用光電感應開關作為采樣器件，克服現有技術采樣電阻帶來的缺陷，易于操作，測試結果穩定準確。

本發明解決所述技術問題可以通過采用以下技術方案來實現：

提出一種電機轉速測試方法，包括如下步驟：

A. 構建包括光電感應開關和測試電源的電機轉速測試電路；

固定安裝光電感應開關，該光電感應開關設置兩采樣支架，使兩采樣支架之間形成采樣間隙；在兩采樣支架上分別設置光發射器件和光接收器件，使得，

當光發射器件發出的光能夠被光接收器件接收時，光電感應開關導電接通；當光發射器件發出的光不能被光接收器件接收時，光電感應開關斷電開路；

B. 在被測電機的輸出軸上套裝其上加工有至少一透光口的測速盤，測速盤的橫截面垂直于被測電機的輸出軸的軸線，使測速盤隨被測電機的輸出軸一起旋轉；

C. 設置被測電機位置，使測速盤插入光電感應開關的兩采樣支架之間的采樣間隙，確保在測速盤的轉動過程中，光發射器件發出的光能夠穿過透光口而被光接收器件接收；

D. 通過測試光電感應開關的導電接通頻率計算被測電機的轉速。

為了直觀觀測測試結果，步驟D包括如下分步驟，

D1. 在光電感應開關的輸出端電連接示波器；

D2. 借助示波器所顯示的光電感應開關的輸出端的波形讀出該光電感應開關的導電接通頻率；

D3. 用分步驟D2讀出的光電感應開關的導電接通頻率計算出測試盤的轉速，該轉速就是被測電機的轉速。

本發明解決所述技術問題還可以通過采用以下技術方案來實現：

設計、制造一種電機轉速測試組件，尤其是包括電機轉速測試電路和測速盤；電機轉速測試電路包括光電感應開關和測試電源。所述光電感應開關設置兩采樣支架，從而在兩采樣支架之間形成采樣間隙；在兩采樣支架上分別設置光發射器件和光接收器件，使得，當光發射器件發出的光能夠被光接收器件接收時，光電感應開關導電接通；當光發射器件發出的光不能被光接收器件接收時，光電感應開關斷電開路。所述測速盤上加工有至少一透光口，用于套裝在被測電機的輸出軸上隨該被測電機的輸出軸一起轉動。當測速盤套裝在被測電機的輸出軸上時，該測速盤插入光電感應開關的兩采樣支架之間的采樣間隙，確保在測速盤隨被測電機的輸出軸轉動過程中，光發射器件發出的光能夠穿過透光口而被光接收器件接收。

為了固定安裝光電感應開關，電機轉速測試組件還包括用于固定安裝光電感應開關的固定支架。

為了直觀觀測測試結果，電機轉速測試組件還包括電連接光電感應開關的輸出端的采樣端口，該采樣端口用于電連接示波器，以使示波器顯示光電感應開關的輸出端的波形。

同現有技術相比較，本發明“電機轉速測試方法及測試組件”的技術效果在于：

電機轉速測試電路與電機測試電路完全隔離，不受電機電壓、電流和功率影響而變化，測試結果直觀準確，適用于多次重復開關的光電感應開關能夠長期穩定工作而確保測試結果穩定準確。

附圖說明

圖1是本發明“電機轉速測試方法及測試組件”優選實施例的正投影主視示意圖；

圖2是所述優選實施例的正投影左視示意圖；

圖3是所述優選實施例的正投影后視示意圖。

具體實施方式

以下結合附圖所示優選實施例作進一步詳述。

本發明提出一種電機轉速測試方法，如圖1至圖3所示，包括如下步驟：

A. 構建包括光電感應開關1和測試電源的電機轉速測試電路；所述電機轉速測試電路內除測試電源和光電感應開關1外還應當設置其它維持電機轉速測試電路穩定運行的必要器件，例如串聯于光電感應開關1的分壓電阻，或者并聯于光電感應開關1的分流電阻；