[發(fā)明專利]一種不均勻電導(dǎo)率導(dǎo)電材料基體表面覆蓋層厚度測(cè)量方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610646029.6 | 申請(qǐng)日： | 2016-08-09 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN106017296B | 公開（公告）日： | 2020-09-25 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 林俊明 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 愛德森（廈門）電子有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01B7/06 | 分類號(hào)： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 361008 福建省廈*** | 國(guó)省代碼： | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 不均勻 電導(dǎo)率 導(dǎo)電 材料 基體 表面 覆蓋層 厚度 測(cè)量方法 | ||
【說明書】：
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