[發明專利]OLED顯示裝置驅動電路缺陷檢測方法有效
| 申請號： | 201610643919.1 | 申請日： | 2016-08-08 |
| 公開（公告）號： | CN106251798B | 公開（公告）日： | 2018-06-01 |
| 發明（設計）人： | 黃泰鈞;梁鵬飛 | 申請（專利權）人： | 深圳市華星光電技術有限公司 |
| 主分類號： | G09G3/00 | 分類號： | G09G3/00;G09G3/3208 |
| 代理公司： | 深圳市德力知識產權代理事務所 44265 | 代理人： | 林才桂 |
| 地址： | 518132 廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 裝置驅動電路 缺陷檢測 標準電壓 斷路缺陷 架構實現 檢測設備 設備成本 外部電壓 短路 預設 偵測 判定 檢測 購買 保證 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市華星光電技術有限公司，未經深圳市華星光電技術有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610643919.1/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種顯示面板的伽馬調試方法及裝置
- 下一篇：驅動顯示裝置的方法
