[發明專利]缺陷顯示方法及裝置

有效

• 申請號: 201610640366.4
• 申請日: 2016-08-05
• 公開（公告）號: CN107688527B
• 公開（公告）日: 2020-08-07
• 發明（設計）人: 李韌;閆浩;謝麗
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 羅振安

本發明提供了一種缺陷顯示方法及裝置，涉及計算機技術領域，該方法包括：根據代碼中的待顯示缺陷的標識信息和預設的缺陷的標識信息與屬性信息的對應關系，確定待顯示缺陷的屬性信息，該屬性信息包括該待顯示缺陷的缺陷級別和待顯示缺陷的修復耗時中至少一項，修復耗時用于指示對待顯示缺陷進行修復的耗時，缺陷級別用于指示待顯示缺陷的嚴重程度；根據待顯示缺陷的屬性信息，確定用于指示該待顯示缺陷的屬性信息的圖形；顯示待顯示缺陷對應的圖形，解決了用戶無法確定出缺陷的嚴重程度或修復缺陷的耗時，從而無法根據缺陷的嚴重程度或修復缺陷的耗時確定出需要優先修復哪些缺陷，導致的缺陷的修復效果較差的問題，提高了缺陷的修復效果。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，特別涉及一種缺陷顯示方法及裝置。

背景技術

用戶編寫出代碼后，可以利用代碼檢查工具對該代碼進行檢查，如PMD、Checkstyle、Findbugs、JDepend、hp fortify、sonarqube等。在代碼檢查工具檢查出缺陷(bug)后，需要顯示檢查出的缺陷。

終端在顯示檢查出的缺陷時，通常會顯示每個缺陷在代碼中位置，以及每個缺陷的類型，比如：缺陷在代碼的第10行，缺陷的類型為變量命名不正確。

由于用戶僅能獲知缺陷在代碼中的位置和缺陷的類型，因此，當終端修復缺陷的時間有限，從而只能修復部分缺陷時，并不能及時制定出合理的修復計劃，若修復了嚴重程度低的缺陷，未修復嚴重程度高的缺陷，會導致缺陷的修復效果差的問題。

發明內容

為了解決終端只顯示缺陷在代碼中的位置和缺陷的類型，使得用戶無法根據缺陷的嚴重程度或修復缺陷的耗時來修復缺陷，導致的缺陷的修復效果差的問題，本發明提供了一種缺陷顯示方法及裝置。

第一方面，提供了一種缺陷顯示方法，該方法包括：根據代碼中的待顯示缺陷的標識信息和預設的缺陷的標識信息與屬性信息的對應關系，確定該待顯示缺陷的屬性信息，根據該屬性信息確定待顯示缺陷對應的圖形，顯示該待顯示缺陷對應的圖形；其中，待顯示缺陷對應的圖形用于指示該待顯示缺陷的屬性信息，待顯示缺陷的屬性信息包括該待顯示缺陷的缺陷級別和該待顯示缺陷的修復耗時中的至少一項，待顯示缺陷的修復耗時用于指示對待顯示缺陷進行修復的耗時，待顯示缺陷的缺陷級別用于指示待顯示缺陷的嚴重程度。

由于待顯示缺陷的修復耗時用于指示對待顯示缺陷進行修復的耗時，且待顯示缺陷的缺陷級別用于指示待顯示缺陷的嚴重程度，因此，當終端顯示有用于指示待顯示缺陷的修復耗時的圖形時，用戶可以根據該圖形確定出該待顯示缺陷的修復耗時；當終端顯示有用于指示待顯示缺陷的缺陷級別的圖形時，用戶可以根據該圖形確定出該圖形對應的待顯示缺陷的嚴重程度，解決了用戶無法確定出缺陷的嚴重程度或修復缺陷的耗時，從而無法根據缺陷的嚴重程度或修復缺陷的耗時確定出需要優先修復哪些缺陷，導致缺陷的修復效果較差的問題，提高了缺陷的修復效果。

結合第一方面，在第一方面的第一種實現中，待顯示缺陷的修復方式包括人工修復，待顯示缺陷的屬性信息包括待顯示缺陷的缺陷級別，根據待顯示缺陷的屬性信息，確定待顯示缺陷對應的圖形，包括：根據待顯示缺陷的缺陷級別，確定第一圖形，此時，圖形包括第一圖形，第一圖形的尺寸用于指示待顯示缺陷的缺陷級別，第一圖形的數量與待顯示缺陷的數量相等；當待顯示缺陷包括第一缺陷時，根據第一缺陷的缺陷級別，確定第二圖形，第一缺陷的修復方式還包括自動修復，此時，圖形還包括第二圖形，第二圖形的尺寸用于指示第一缺陷的缺陷級別，第二圖形的數量與第一缺陷的數量相等；顯示待顯示缺陷對應的圖形，包括：在待顯示缺陷的數量為至少兩個時，顯示人工修復質量軌跡，人工修復質量軌跡為對第一圖形進行排列從而形成的軌跡；在第一缺陷的數量為至少兩個時，顯示自動修復質量軌跡，自動修復質量軌跡為對第二圖形進行排列從而形成的軌跡。