[發(fā)明專利]一種OLED器件衰減分析裝置及衰減分析方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610634740.X | 申請日: | 2016-08-04 |
| 公開(公告)號: | CN106250641B | 公開(公告)日: | 2019-03-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 許凱;彭銳;葉志杰;胡月 | 申請(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;合肥鑫晟光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50;H01L51/56 |
| 代理公司: | 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274 | 代理人: | 周娟 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 oled 器件 衰減 分析 裝置 方法 | ||
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