[發明專利]陣列測試電路及陣列測試方法有效
| 申請號： | 201610632513.3 | 申請日： | 2016-08-04 |
| 公開（公告）號： | CN106057110B | 公開（公告）日： | 2019-04-05 |
| 發明（設計）人： | 洪光輝;龔強 | 申請（專利權）人： | 武漢華星光電技術有限公司 |
| 主分類號： | G09G3/00 | 分類號： | G09G3/00;G09G3/36 |
| 代理公司： | 廣州三環專利商標代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝傳鑫;熊永強 |
| 地址： | 430070 湖北省武漢市武*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 陣列 測試 電路 方法 | ||
【說明書】：
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