[發明專利]顯示裝置壞點檢測方法及其檢測設備

在審

• 申請號: 201610630303.0
• 申請日: 2016-08-04
• 公開（公告）號: CN107690066A
• 公開（公告）日: 2018-02-13
• 發明（設計）人: 廖期異
• 申請（專利權）人: 和碩聯合科技股份有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00;H04N5/367
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司11205
• 代理人: 馬雯雯,臧建明

1.一種顯示裝置壞點檢測方法，其特征在于，包含下列步驟：

在清除顯示裝置上的落塵的一段時間內，連續取得所述顯示裝置的外觀的多個第一影像，其中所述第一影像中的不可清除落塵的位置為第一可能異常位置；

比對所述多個第一影像中的所述多個第一可能異常位置，并且將在所有所述第一影像中都保持固定位置的所述第一可能異常位置記錄為第一異常位置；

點亮所述顯示裝置，并且取得點亮后的所述顯示裝置的外觀的第二異常位置；以及

比對所述第二異常位置與所述第一異常位置，將未與所述第一異常位置重疊的所述第二異常位置記錄為壞點位置。

2.根據權利要求1所述的顯示裝置壞點檢測方法，其特征在于，在取得所述第一影像時，還照亮所述顯示裝置。

3.根據權利要求1所述的顯示裝置壞點檢測方法，其特征在于，點亮后的所述顯示裝置顯示全白畫面、全灰畫面、全藍畫面、全綠畫面或全紅畫面。

4.根據權利要求1所述的顯示裝置壞點檢測方法，其特征在于，點亮所述顯示裝置并且取得所述第二異常位置的步驟包括：

點亮所述顯示裝置以顯示單一顏色的畫面，并且連續取得所述顯示裝置的外觀的多個第二影像；以及

比對所述多個第二影像中的多個第二可能異常位置，并且將在所有所述第二影像中都保持固定位置的所述第二可能異常位置記錄為所述第二異常位置。

5.根據權利要求1所述的顯示裝置壞點檢測方法，其特征在于，點亮所述顯示裝置并且取得所述第二異常位置的步驟包括：

點亮所述顯示裝置以依序顯示不同的多個畫面，并且在所述顯示裝置顯示每個所述畫面時都取得至少一個所述第二影像；以及

比對多個所述第二影像中的多個第二可能異常位置，并且將在所有所述第二影像中都保持固定位置的所述第二可能異常位置記錄為所述第二異常位置。

6.根據權利要求4或5所述的顯示裝置壞點檢測方法，其特征在于，點亮所述顯示裝置并且取得所述第二影像的步驟還包括：

在每次取得所述第二影像前清除所述顯示裝置上的落塵。

7.根據權利要求1所述的顯示裝置壞點檢測方法，其特征在于，清除所述顯示裝置上的落塵的方法包括吹落所述顯示裝置上的落塵。

8.根據權利要求1所述的顯示裝置壞點檢測方法，其特征在于，清除所述顯示裝置上的落塵的方法包括擦除所述顯示裝置上的落塵。

9.根據權利要求1所述的顯示裝置壞點檢測方法，其特征在于，是在非無塵環境進行。

10.根據權利要求1所述的顯示裝置壞點檢測方法，其特征在于，在取得所述第一影像時，所述顯示裝置未點亮。

11.一種顯示裝置壞點檢測設備，其特征在于，包括：

除塵裝置；

拍攝裝置，用以在所述除塵裝置清除顯示裝置上的落塵的一段時間內，連續取得所述顯示裝置的外觀的多個第一影像，其中所述第一影像中的不可清除落塵的位置為第一可能異常位置，所述拍攝裝置還用以取得點亮后的所述顯示裝置的外觀的第二異常位置；以及

判斷裝置，電性連接所述拍攝裝置，用以比對所述多個第一影像中的所述多個第一可能異常位置，并且將在所有所述第一影像中都保持固定位置的所述第一可能異常位置記錄為第一異常位置，還用以比對所述第二異常位置與所述第一異常位置，將未與所述第一異常位置重疊的所述第二異常位置記錄為壞點位置。

12.根據權利要求11所述的顯示裝置壞點檢測設備，其特征在于，還包括光源，用以照亮所述顯示裝置。

13.根據權利要求11所述的顯示裝置壞點檢測設備，其特征在于，還包括支撐架，用以支撐所述顯示裝置。

14.根據權利要求11所述的顯示裝置壞點檢測設備，其特征在于，還包括監視器，電性連接所述判斷裝置，用以顯示所述判斷裝置的操作界面。

15.根據權利要求11所述的顯示裝置壞點檢測設備，其特征在于，所述的除塵裝置為離子風扇或靜電布。