[發明專利]保護膜以及包括該保護膜的光掩模組件有效
| 申請號： | 201610623699.6 | 申請日： | 2016-08-02 |
| 公開（公告）號： | CN106406021B | 公開（公告）日： | 2021-09-14 |
| 發明（設計）人： | 鄭鏞席;全桓徹;金炳局;崔在爀;權星元 | 申請（專利權）人： | 三星電子株式會社 |
| 主分類號： | G03F1/48 | 分類號： | G03F1/48;G03F1/62;B82Y40/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人： | 王新華 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 保護膜 以及 包括 模組 | ||
【權利要求書】：
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G03 攝影術；電影術；利用了光波以外其他波的類似技術；電記錄術；全息攝影術
G03F 圖紋面的照相制版工藝，例如，印刷工藝、半導體器件的加工工藝；其所用材料；其所用原版；其所用專用設備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版，例如掩膜，光掩膜；其所用空白掩膜或其所用薄膜；其專門適用于此的容器；其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜，例如通過電子束；其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜，例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM]；PSM空白；其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜；其制備，例如光學臨近校正(OPC)設計工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜，例如用于校準或測試的特殊涂層或標記；其制備
G03F 圖紋面的照相制版工藝，例如，印刷工藝、半導體器件的加工工藝；其所用材料；其所用原版；其所用專用設備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版，例如掩膜，光掩膜；其所用空白掩膜或其所用薄膜；其專門適用于此的容器；其制備
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