[發明專利]一種有序硅納米孔道薄膜/氧化銦錫電極電化學檢測鉛離子的方法有效
| 申請號： | 201610620605.X | 申請日： | 2016-07-29 |
| 公開（公告）號： | CN106290540B | 公開（公告）日： | 2018-10-26 |
| 發明（設計）人： | 劉吉洋;程博文;周璘;袁坤;奚鳳娜 | 申請（專利權）人： | 浙江理工大學 |
| 主分類號： | G01N27/48 | 分類號： | G01N27/48 |
| 代理公司： | 杭州天勤知識產權代理有限公司 33224 | 代理人： | 胡紅娟 |
| 地址： | 310018 浙江*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 有序 納米 孔道 薄膜 氧化 電極 電化學 檢測 離子 方法 | ||
【說明書】：
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