[發明專利]一種基于錳摻雜氮化銅薄膜的可見光探測器有效
| 申請號: | 201610614357.8 | 申請日: | 2016-07-29 |
| 公開(公告)號: | CN106206829B | 公開(公告)日: | 2017-11-14 |
| 發明(設計)人: | 李興鰲;趙楊華;楚亮;賈振宏;張巧霞;於愛愛;黃維 | 申請(專利權)人: | 南京郵電大學 |
| 主分類號: | H01L31/09 | 分類號: | H01L31/09;H01L31/18 |
| 代理公司: | 南京知識律師事務所32207 | 代理人: | 汪旭東 |
| 地址: | 210023 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 摻雜 氮化 薄膜 可見光 探測器 | ||
1.一種基于錳摻雜氮化銅薄膜的可見光探測器,該探測器器主要分為四層,依次包括:襯底、底電極、可見光吸收層和頂電極,其特征在用于,所述可見光吸收層為錳摻雜氮化銅薄膜。
2.如權利要求1所述的可見光探測器,其特征在于:所述錳摻雜氮化銅薄膜采用雙靶共濺射制備。
3.如權利要求1所述的可見光探測器,其特征在于:所述襯底為透明電子玻璃或者載玻片;所述底電極為透明導電薄膜;所述頂電極為金屬材料。
4.如權利要求3所述的可見光探測器,其特征在于:所述透明導電薄膜為FTO、ITO或AZO;所述金屬材料為Au、Ag、Cu、Pt、Al或Ti。
5.如權利要求1所述的可見光探測器,其特征在于:所述可見光吸收層的厚度為厚度為50-300nm,所述頂電極的厚度為100nm。
6.一種如權利要求1所述的可見光探測器的制備方法,其特征在于,所述制備方法的具體步驟為:
a.在襯底上,用稀鹽酸和鋅粉進行刻蝕,制得導電層,作為底電極;
b.清洗并烘干上述襯底,并以此作為基片,采用雙靶共濺射制備錳摻雜氮化銅薄膜,得到可見光吸收層;
c.直接在上述基片的可見光吸收層上,通過濺射靶材或蒸發蒸鍍制備頂電極。
7.如權利要求6所述的制備方法,其特征在于:所述襯底為透明電子玻璃或者載玻片;所述底電極為透明導電薄膜;所述頂電極為金屬材料。
8.如權利要求6所述的制備方法,其特征在于:底電極的寬度為0.8cm;錳摻雜氮化銅薄膜厚度為50-300nm;頂電極的厚度為100nm。
9.如權利要求6所述的制備方法,其特征在于:在上述步驟b中,錳摻雜氮化銅薄膜的制備過程為:將基片放置于真空度優于5.0×10-4Pa的環境中,采用銅靶材和錳靶材在通入氮氣和氬氣的氛圍中進行共濺射,制得錳摻雜氮化銅薄膜。
10.如權利要求6所述的制備方法,其特征在于:在上述步驟c中,頂電極的制備過程為:將樣品放置于真空度為5.0×10-4Pa的環境中,再通入純氬氣,通過濺射靶材進行電極的制備,或者轉入高真空環境的蒸發室進行電極的沉積。
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H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
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H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





