[發明專利]一種芯片抗外力測試裝置及其測試方法有效
| 申請號： | 201610614003.3 | 申請日： | 2016-07-28 |
| 公開（公告）號： | CN106289970B | 公開（公告）日： | 2019-11-29 |
| 發明（設計）人： | 王蘭龍;王愛秋 | 申請（專利權）人： | 大唐微電子技術有限公司;大唐半導體設計有限公司 |
| 主分類號： | G01N3/08 | 分類號： | G01N3/08 |
| 代理公司： | 11262 北京安信方達知識產權代理有限公司 | 代理人： | 李紅爽;栗若木<國際申請>=<國際公布> |
| 地址： | 100094*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 芯片 外力 測試 裝置 及其 方法 | ||
【權利要求書】：
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