[發(fā)明專利]一種全息反射陣緊縮場(chǎng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610608751.0 | 申請(qǐng)日: | 2016-07-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106249058B | 公開(公告)日: | 2019-01-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李志平;趙健;武建華;王正鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京航空航天大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R29/10 | 分類號(hào): | G01R29/10;G01S7/41 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責(zé)任公司 11251 | 代理人: | 成金玉;盧紀(jì) |
| 地址: | 100191*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 全息 反射 緊縮 | ||
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量,如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量,即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商;峰值因數(shù)的測(cè)量,即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量
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