[發(fā)明專利]一種構(gòu)造物理模擬實驗表面質(zhì)點的跟蹤方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610608276.7
• 申請日: 2016-07-28
• 公開（公告）號: CN107665628A
• 公開（公告）日: 2018-02-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉運黎;方成名;江興歌;王保華;陸建林;袁東風;宋在超
• 申請（專利權(quán)）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發(fā)研究院
• 主分類號: G09B23/40
• 分類號: G09B23/40
• 代理公司: 北京聿宏知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11372
• 代理人: 吳大建

1.一種構(gòu)造物理模擬實驗表面質(zhì)點的跟蹤方法，其特征在于，所述方法包括：

標志點設(shè)置步驟，在構(gòu)造物理模擬實驗的實驗?zāi)Ｐ蜕媳粶y位置處設(shè)置標志點；

數(shù)據(jù)測量步驟，在進行構(gòu)造物理模擬實驗的過程中，每隔預(yù)設(shè)時長對所述實驗?zāi)Ｐ瓦M行非接觸光學投影式三維地貌測量，得到所述標志點的特征數(shù)據(jù)；

數(shù)據(jù)處理步驟，對所述標志點的特征數(shù)據(jù)進行方位計算，得到所述實驗?zāi)Ｐ蜕媳粶y位置的變化信息。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述數(shù)據(jù)測量步驟中，每隔預(yù)設(shè)時長對所述實驗?zāi)Ｐ瓦M行多次測量。

3.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述標志點設(shè)置步驟中，在構(gòu)造物理模擬實驗的實驗?zāi)Ｐ蜕显O(shè)置多個標志點。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，在所述數(shù)據(jù)測量步驟中，在進行構(gòu)造物理模擬實驗的過程中，采集所述多個標志點的位置數(shù)據(jù)，得到所有標志點的點云數(shù)據(jù)，形成第一點云數(shù)據(jù)；

在所述數(shù)據(jù)處理步驟中，根據(jù)所述第一點云數(shù)據(jù)確定各個標志點的運動信息，從而確定出所述實驗?zāi)Ｐ蜕媳粶y位置的變化信息。

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，在所述數(shù)據(jù)測量步驟中，利用層次聚類法對所述第一點云數(shù)據(jù)進行壓縮處理，得到第二點云數(shù)據(jù)；

在所述數(shù)據(jù)處理步驟中，根據(jù)所述第二點云數(shù)據(jù)確定各個標志點的運動信息。

6.一種構(gòu)造物理模擬實驗表面質(zhì)點的跟蹤裝置，其特征在于，所述裝置包括：

標志點設(shè)置模塊，其用于在構(gòu)造物理模擬實驗的實驗?zāi)Ｐ蜕显O(shè)置標志點；

數(shù)據(jù)測量模塊，其用于在進行構(gòu)造物理模擬實驗的過程中，每隔預(yù)設(shè)時長對所述實驗?zāi)Ｐ瓦M行非接觸光學投影式三維地貌測量，得到所述標志點的特征數(shù)據(jù)；

數(shù)據(jù)處理模塊，其用于對所述標志點的特征數(shù)據(jù)進行方位計算，得到所述標志點的運動信息。

7.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)測量模塊配置為每隔預(yù)設(shè)時長對所述實驗?zāi)Ｐ瓦M行多次測量。

8.如權(quán)利要求6或7所述的裝置，其特征在于，所述標志點設(shè)置模塊配置為在構(gòu)造物理模擬實驗的實驗?zāi)Ｐ蜕显O(shè)置多個標志點。

9.如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)測量模塊配置為在進行構(gòu)造物理模擬實驗的過程中，采集所述多個標志點的位置數(shù)據(jù)，得到所有標志點的點云數(shù)據(jù)，形成第一點云數(shù)據(jù)；

所述數(shù)據(jù)處理模塊配置為根據(jù)所述第一點云數(shù)據(jù)確定各個標志點的運動信息，從而確定出所述實驗?zāi)Ｐ蜕媳粶y位置的變化信息。

10.如權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)測量模塊配置為利用層次聚類法對所述第一點云數(shù)據(jù)進行壓縮處理，得到第二點云數(shù)據(jù)；

所述數(shù)據(jù)處理配置為根據(jù)所述第二點云數(shù)據(jù)確定各個標志點的運動信息。