[發明專利]一種射頻終端的控制方法及裝置在審
| 申請號: | 201610597617.5 | 申請日: | 2016-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN107659364A | 公開(公告)日: | 2018-02-02 |
| 發明(設計)人: | 劉鑫;李俊強;翁毅;黃宗治 | 申請(專利權)人: | 北京展訊高科通信技術有限公司 |
| 主分類號: | H04B17/11 | 分類號: | H04B17/11;H04B17/10;H04B17/13 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司11227 | 代理人: | 張振軍,吳敏 |
| 地址: | 100084 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 射頻 終端 控制 方法 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及通信領域,尤其涉及一種射頻終端的控制方法及裝置。
背景技術
為提升射頻終端數據發射的準確性,通常會對射頻終端進行檢測和校準,從這個角度上,射頻終端可以包括發射裝置和發射檢測裝置,發射裝置用于對數據的發射,發射檢測裝置用于對射頻終端進行檢測,以對射頻終端進行校準。
但是,在現有技術中,對射頻終端的檢測與校準的準確性有待提升。
發明內容
本發明解決的技術問題是提升對射頻終端的檢測與校準的準確性。
為解決上述技術問題,本發明實施例提供一種射頻終端的控制方法,包括:在所述射頻終端開機后,對所述發射檢測裝置進行校準,以得到校準結果;根據對所述發射檢測裝置進行校準得到的校準結果補償所述發射檢測裝置的非理想性;使用補償后的所述發射檢測裝置對所述發射裝置進行校準,以對所述發射裝置的數據發射的非理想性進行補償。
可選的,對所述發射檢測裝置進行校準包括:射頻終端產生原始測試信號,所述原始測試信號從所述發射檢測裝置接入檢測點的一端經由所述發射檢測裝置的其他部件,到達所述發射檢測裝置的信號處理部件;所述發射檢測裝置的信號處理部件根據所述原始測試信號和所述到達所述發射檢測裝置的信號處理部件的信號,對所述發射檢測裝置進行校準。可選的,所述原始測試信號為預設頻率的正弦波,所述預設頻率根據所述射頻終端的工作頻率、偏移量和帶寬確定。
可選的,所述根據對所述發射檢測裝置進行校準的結果補償所述發射檢測裝置的非理想性包括:根據對所述發射檢測裝置進行校準的結果配置所述發射檢測裝置的反饋接收數字前端,以補償所述發射檢測裝置的非理想性。
可選的,所述發射檢測裝置用于檢測所述發射裝置的多個檢測點;所述使用補償后的所述發射檢測裝置對所述發射裝置進行校準包括:使用補償后的所述發射檢測裝置按照數據發射的數據流向逐步獲取不同檢測點的信號,以多次逐步完成對所述發射裝置的校準;所述多次逐步完成對所述發射裝置的校準包括:每次按照數據發射的數據流向獲取在前檢測點的信號后,根據所述在前檢測點獲取的信號完成對數據流向在前檢測點的校準,并根據所述在前檢測點的校準結果對所述述發射裝置進行補償;下一次數據流向在后檢測點的校準是基于補償后的發射裝置進行的。
可選的,所述發射裝置包括射頻發射機、功率放大器以及射頻前端,所述功率放大器的輸入端連接至所述射頻發射機,所述功率放大器的輸出端連接至所述射頻前端,所述使用補償后的所述發射檢測裝置對所述發射裝置進行校準包括:所述發射檢測裝置檢測所述射頻發射機輸出端的信號,根據檢測結果校準所述射頻發射機,以補償所述射頻發射機的非理想性;使用補償后的所述發射檢測裝置檢測所述功率放大器輸出端的檢測點,以進行射頻算法訓練,所述射頻算法訓練的結果用于對所述發射裝置發射的數據進行預失真。
可選的,還包括:在所述發射裝置進行工作數據發射的過程中,同時利用所述工作數據進行射頻算法訓練、天線調諧控制和/或功率控制;其中:所述射頻算法訓練的結果用于矯正所述射頻終端發射的數據;所述天線調諧控制包括:控制補償后的所述發射檢測裝置對所述發射裝置的發射信號進行檢測,根據檢測得到的信號配置天線調諧器;所述功率控制包括:使用補償后的所述發射檢測裝置檢測所述發射裝置的發射信號,以對發射終端進行自閉環功率控制。
可選的,所述射頻終端的控制方法還包括:在所述發射裝置的空閑階段,周期觸發對所述發射檢測裝置的校準、對所述發射裝置的校準和/或射頻算法訓練;其中,所述射頻算法訓練的結果用于對所述發射裝置發射的數據進行預失真。
可選的,所述對所述發射檢測裝置進行校準包括校準以下至少一種:直流偏移、IQ不平衡、增益非線性、頻率響應。
可選的,所述使用補償后的所述發射檢測裝置對所述發射裝置進行校準,包括校準以下至少一項:輸出載波泄露、IQ不平衡、增益非線性、頻率響應。
可選的,在不同的頻點、帶寬或增益下,分別對所述發射檢測裝置和所述發射檢測裝置進行校準。
本發明實施例還提供一種射頻終端的控制裝置,所述射頻終端包括發射裝置和發射檢測裝置,其特征在于,所述控制裝置包括:發射檢測校準單元,適于對所述發射檢測裝置進行校準,以得到校準結果;發射檢測補償單元,適于根據對所述發射檢測裝置進行校準的結果補償所述發射檢測裝置的非理想性;發射校準單元,適于使用補償后的所述發射檢測裝置對所述發射裝置進行校準,以對所述發射裝置的數據發射的非理想性進行補償。
與現有技術相比,本發明實施例的技術方案具有以下有益效果:
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