[發(fā)明專利]校準(zhǔn)橢偏儀的膜厚樣片、檢驗樣片及其檢驗方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610593087.7 | 申請日： | 2016-07-26 |
| 公開（公告）號： | CN106052573B | 公開（公告）日： | 2019-04-16 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李鎖印 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國電子科技集團公司第十三研究所 |
| 主分類號： | G01B11/06 | 分類號： | G01B11/06;G01N21/21;G01N21/41 |
| 代理公司： | 石家莊國為知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 13120 | 代理人： | 申超平 |
| 地址： | 050051 *** | 國省代碼： | 河北;13 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 校準(zhǔn) 橢偏儀 樣片 檢驗 及其 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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