[發(fā)明專利]用于光合測試的模擬葉片及制備方法及測試光合儀的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610592094.5 | 申請日： | 2016-07-26 |
| 公開（公告）號： | CN106018041B | 公開（公告）日： | 2019-05-07 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 郭峰;陳彥昌;顧群 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海澤泉科技股份有限公司;上海乾菲諾農(nóng)業(yè)科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N1/28 | 分類號： | G01N1/28;G01N21/00 |
| 代理公司： | 上海碩力知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 200062 上海市普陀區(qū)*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 光合 測試 模擬 葉片 制備 方法 | ||
【說明書】：
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