[發明專利]便攜式激光誘導擊穿光譜分析系統

有效

• 申請號: 201610570751.6
• 申請日: 2016-07-19
• 公開（公告）號: CN106645096B
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發明（設計）人: 王培棟;孫嶸;B·法爾維;李浩文;沈育;M·E·道伽斯
• 申請（專利權）人: 賽默科技便攜式分析儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/71
• 分類號: G01N21/71;G01N21/01
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 姬利永

1.一種激光誘導擊穿系統，其包括：

便攜式裝置，其包括：

激光器，其被配置成產生包括多個重復脈沖的光束；

溫度檢測器，其被配置成獲取溫度測量值；

處理器，其被配置成通過調整第一延遲周期來補償與所述溫度測量值相關的校準曲線的斜率中的差異并在所述第一延遲周期之后打開第一數據獲取窗口，其中所述第一延遲周期在產生所述脈沖中的一者之后開始且所述校準曲線包括樣本對所述脈沖中的一個或多個的響應與所述樣本的濃度范圍之間的關系；

一或多個光學元件，其被配置成在所述樣本處引導所述光束且從等離子體連續光譜收集所發射光；及

光檢測器，其被配置成從來自在所述第一數據獲取窗口期間收集的所述等離子體連續光譜的所述所發射光產生多個信號值，其中所述處理器被配置成從所述信號值識別元素。

2.根據權利要求1所述的激光誘導擊穿系統，其進一步包括：

第二光檢測器，其檢測來自所述激光器的實際脈沖的時間點。

3.根據權利要求2所述的激光誘導擊穿系統，其中：

所述處理器使用所述實際脈沖的所述時間點起始所述第一延遲周期的時序。

4.根據權利要求1所述的激光誘導擊穿系統，其中：

所述溫度檢測器定位在所述便攜式裝置的外殼內部。

5.根據權利要求1所述的激光誘導擊穿系統，其中：

在與在所述激光器產生所述光束時相同的時間獲取所述溫度測量值。

6.根據權利要求1所述的激光誘導擊穿系統，其中：

所述處理器被配置成在第二延遲周期之后打開第二數據獲取窗口。

7.根據權利要求6所述的激光誘導擊穿系統，其中：

所述第一數據獲取窗口及所述第二數據獲取窗口包括不同的持續時間。

8.根據權利要求6所述的激光誘導擊穿系統，其中：

所述第一數據獲取窗口及所述第二數據獲取窗口包括重疊的持續時間。

9.根據權利要求6所述的激光誘導擊穿系統，其中：

所述處理器使用所述第一延遲周期獲得所述多個信號值且使用所述第二延遲周期獲得多個信號值；且

所述處理器計算來自所述第一延遲周期的所述信號值中的一或多者與來自所述第二延遲周期的對應信號值之間的差值。

10.根據權利要求9所述的激光誘導擊穿系統，其中：

所述處理器基于所述差值而選擇所述第一延遲周期或第二延遲周期中的一者。

11.根據權利要求1所述的激光誘導擊穿系統，其中：

所述第一數據獲取窗口不包括大于所述第一延遲周期的持續時間。

12.根據權利要求1所述的激光誘導擊穿系統，其進一步包括：

可變過濾器元件，其修改所述光束的功率電平。

13.根據權利要求12所述的激光誘導擊穿系統，其進一步包括：

所述溫度檢測器被配置成檢測環境溫度，其中所述處理器使用所述環境溫度來修改所述可變過濾器與所述光束的相對位置。