[發(fā)明專利]電容器結(jié)構(gòu)及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610567820.8 | 申請日: | 2016-07-19 |
| 公開(公告)號: | CN107579037B | 公開(公告)日: | 2020-08-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 車行遠(yuǎn);姜文萍;侯映君 | 申請(專利權(quán))人: | 力晶積成電子制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L23/522 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 陳小雯 |
| 地址: | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電容器 結(jié)構(gòu) 及其 制造 方法 | ||
1.一種電容器結(jié)構(gòu)的制造方法,包括:
在第一導(dǎo)體層上形成堆疊結(jié)構(gòu),其中所述堆疊結(jié)構(gòu)從所述第一導(dǎo)體層起依序包括第一介電層、蝕刻終止層與第二介電層;
在所述堆疊結(jié)構(gòu)中形成介層窗,其中所述介層窗包括阻障層與導(dǎo)電插塞,且所述介層窗與所述第一導(dǎo)體層電連接;
在所述第二介電層中形成第一開口,其中所述第一開口環(huán)繞所述介層窗;
移除所述導(dǎo)電插塞,以形成第二開口;
僅在所述第一開口與所述第二開口中形成電容結(jié)構(gòu),其中所述電容結(jié)構(gòu)包括下電極、電容介電層以及上電極,且所述下電極與所述第一導(dǎo)體層電連接,其中該下電極、該電容介電層以及該上電極的上表面齊平;
移除部分該下電極,使得下電極的頂面低于該上電極的上表面;
移除相鄰兩電容結(jié)構(gòu)之間的該第二介電層,使該第二介電層的頂面低于該下電極的該頂面;以及
在所述第二介電層上形成絕緣層并覆蓋所述下電極,且暴露部分所述上電極。
2.如權(quán)利要求1所述的電容器結(jié)構(gòu)的制造方法,其中所述第一開口暴露部分所述蝕刻終止層。
3.如權(quán)利要求1所述的電容器結(jié)構(gòu)的制造方法,其中形成所述介層窗的步驟包括:
在所述堆疊結(jié)構(gòu)中形成介層窗開口,其中所述介層窗開口暴露部分所述第一導(dǎo)體層;
在所述介層窗開口的表面形成所述阻障層;以及
在所述介層窗開口中填入所述導(dǎo)電插塞。
4.如權(quán)利要求1所述的電容器結(jié)構(gòu)的制造方法,其中形成所述電容結(jié)構(gòu)的步驟包括:
在所述第一開口與所述第二開口的表面形成所述下電極;
在所述下電極上形成所述電容介電層;以及
在所述第一開口與所述第二開口中填入所述上電極。
5.如權(quán)利要求1所述的電容器結(jié)構(gòu)的制造方法,其中在形成所述電容結(jié)構(gòu)之后,還包括:
在所述絕緣層上形成第二導(dǎo)體層,其中所述第二導(dǎo)體層與所述上電極電連接。
6.一種電容器結(jié)構(gòu)的制造方法,包括:
在第一導(dǎo)體層上依序形成第一介電層與第二介電層;
在所述第一介電層與所述第二介電層中形成介層窗,其中所述介層窗包括阻障層與導(dǎo)電插塞,且所述介層窗與所述第一導(dǎo)體層電連接;
在所述第二介電層中形成第一開口,其中所述第一開口環(huán)繞所述介層窗;
移除所述導(dǎo)電插塞,以形成第二開口;
僅在所述第一開口與所述第二開口中形成電容結(jié)構(gòu),其中所述電容結(jié)構(gòu)包括下電極、電容介電層以及上電極,且所述下電極與所述第一導(dǎo)體層電連接,其中該下電極、該電容介電層以及該上電極的上表面齊平;
移除部分該下電極,使得下電極的頂面低于該上電極的上表面;
移除相鄰兩電容結(jié)構(gòu)之間的該第二介電層,使該第二介電層的頂面低于該下電極的該頂面;以及
在所述第二介電層上形成絕緣層并覆蓋所述下電極,且暴露部分所述上電極。
7.如權(quán)利要求6所述的電容器結(jié)構(gòu)的制造方法,其中在形成所述第二介電層之前,還包括在所述第一介電層上形成蝕刻終止層。
8.如權(quán)利要求7所述的電容器結(jié)構(gòu)的制造方法,其中所述第一開口暴露部分所述蝕刻終止層。
9.如權(quán)利要求6所述的電容器結(jié)構(gòu)的制造方法,其中形成所述介層窗的步驟包括:
在所述第一介電層與所述第二介電層中形成介層窗開口,其中所述介層窗開口暴露部分所述第一導(dǎo)體層;
在所述介層窗開口的表面形成所述阻障層;以及
在所述介層窗開口中填入所述導(dǎo)電插塞。
10.如權(quán)利要求6所述的電容器結(jié)構(gòu)的制造方法,其中形成所述電容結(jié)構(gòu)的步驟包括:
在所述第一開口與所述第二開口的表面形成所述下電極;
在所述下電極上形成所述電容介電層;以及
在所述第一開口與所述第二開口中填入所述上電極。
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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