[發明專利]集成電路結構

在審

• 申請號: 201610567623.6
• 申請日: 2016-07-19
• 公開（公告）號: CN107632656A
• 公開（公告）日: 2018-01-26
• 發明（設計）人: 陳啟彬
• 申請（專利權）人: 揚智科技股份有限公司
• 主分類號: G05F1/56
• 分類號: G05F1/56
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司31100
• 代理人: 胡林嶺

1.一種集成電路結構，其特征在于，包括：

參考電路，產生參考電流；以及

至少兩個核心電路，耦接所述參考電路以接收所述參考電流，

其中所述核心電路包括：

電流校準電路，依據所述參考電流產生位于所述核心電路中的偏壓電流，

所述核心電路使用所述偏壓電流來取代所述參考電流，

其中在所述集成電路結構于測試階段時，所述參考電路透過所述集成電路結構的接腳電性連接至外部阻抗來產生所述參考電流，且在所述測試階段后，斷開所述參考電路與所述集成電路結構的所述接腳之間的連接。

2.如權利要求1所述的集成電路結構，其特征在于，所述電流校準電路包括：

電壓產生器，用以產生內部參考電壓；

電流產生器，耦接所述電壓產生器，依據所述內部參考電壓產生內部參考電流；

數字控制電流鏡，耦接所述電流產生器，依據所述內部參考電流產生校正電流；以及

電流比較器，耦接所述數字控制電流鏡，用以比較所述參考電流以及所述校正電流，

其中在所述電流校準電路啟動時，所述數字控制電流鏡調整所述校正電流的電流值，

所述數字控制電流鏡依據所述電流比較器判斷所述校正電流與所述參考電流的比較結果產生所述偏壓電流，其中所述偏壓電流的電流值與所述參考電流的當前電流值實質相同。

3.如權利要求2所述的集成電路結構，其特征在于，所述電壓產生器產生與絕對溫度成正比的所述內部參考電壓，并且，

所述電流產生器包括具有正溫度系數的阻抗元件，所述電流產生器依據所述內部參考電壓而產生與系統電壓及絕對溫度無關的所述內部參考電流。

4.如權利要求3所述的集成電路結構，其特征在于，還包括對應各個所述電流校準電路的存儲器單元，所述存儲器單元用以記錄已校準的所述偏壓電流的已校準電流值。

5.如權利要求4所述的集成電路結構，其特征在于，所述參考電路包括參考電流產生器，

其中，在所述集成電路結構于所述測試階段時，所述參考電流產生器透過所述集成電路結構的接腳耦接至所述外部阻抗以產生所述參考電流，所述電流校準電路依據所述參考電流產生位于所述至少一核心電路中的所述偏壓電流，并將所述偏壓電流的已校準電流值記錄在所述存儲器單元，

并且，所述電流校準電路依據所述存儲器單元所記錄的所述已校準電流值以產生所述偏壓電流。

6.如權利要求1所述的集成電路結構，其特征在于，更包括存儲器，

且所述參考電路包括：

參考電流產生器，用以產生第一電流；以及

第二電流校準電路，耦接所述參考電流產生器，

其中所述第二電流校準電路利用所述存儲器記錄所述第一電流的已校準電流值，并依據被記錄的所述已校準電流值產生所述參考電流。

7.如權利要求6所述的集成電路結構，其特征在于，在所述集成電路結構于所述測試階段時，所述參考電流產生器透過所述集成電路結構的接腳耦接至所述外部阻抗以產生所述第一電流，且所述第二電流校準電路記錄所述第一電流的已校準電流值，

所述電流校準電路依據所述第二電流校準電路所產生的所述參考電壓以產生所述偏壓電流。

8.如權利要求1所述的集成電路結構，其特征在于，更包括：

分配電流鏡，耦接所述參考電路與所述至少兩個核心電路之間，接收所述參考電流并產生多個鏡像電流至所述核心電路，以使所述鏡像電流作為所述核心電路各自的所述參考電流。

9.如權利要求1所述的集成電路結構，其特征在于，更包括：

多路復用器，其第一連接端耦接所述參考電路，所述多路復用器的第二連接端耦接所述集成電路結構中的數字電路，所述多路復用器的輸出連接端耦接所述集成電路結構的所述接腳，其中在所述集成電路結構外部的所述接腳電性連接所述外部阻抗，

當在所述集成電路結構于所述測試階段時，所述多路復用器將所述第一連接端電性連接至所述輸出連接端，

當所述測試階段結束時，所述多路復用器將所述第二連接端電性連接至所述輸出連接端。