[發(fā)明專利]一種基于GPU訪存特性的異構(gòu)多核架構(gòu)緩存管理方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610567040.3 | 申請(qǐng)日: | 2016-07-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106250348B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-02-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 方娟;郝曉婷;范清文;劉士建 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06F15/167 | 分類號(hào): | G06F15/167;G06F12/0806 |
| 代理公司: | 北京思海天達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11203 | 代理人: | 張慧 |
| 地址: | 100124 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 gpu 特性 多核 架構(gòu) 緩存 管理 方法 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京工業(yè)大學(xué),未經(jīng)北京工業(yè)大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610567040.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F15-00 通用數(shù)字計(jì)算機(jī)
G06F15-02 .通過(guò)鍵盤(pán)輸入的手動(dòng)操作,以及應(yīng)用機(jī)內(nèi)程序的計(jì)算,例如,袖珍計(jì)算器
G06F15-04 .在引入被處理的數(shù)據(jù)的同時(shí),進(jìn)行編制程序的,例如,在同一記錄載體上
G06F15-08 .應(yīng)用插接板編制程序的
G06F15-16 .兩個(gè)或多個(gè)數(shù)字計(jì)算機(jī)的組合,其中每臺(tái)至少具有一個(gè)運(yùn)算器、一個(gè)程序器及一個(gè)寄存器,例如,用于數(shù)個(gè)程序的同時(shí)處理
G06F15-18 .其中,根據(jù)計(jì)算機(jī)本身在一個(gè)完整的運(yùn)行期間內(nèi)所取得的經(jīng)驗(yàn)來(lái)改變程序的;學(xué)習(xí)機(jī)器
- 圖形處理器任務(wù)的分配方法和裝置
- 一種資源調(diào)度裝置、資源調(diào)度系統(tǒng)和資源調(diào)度方法
- 一種免工具GPU支架固定裝置
- 一種YARN集群GPU資源調(diào)度方法、裝置和介質(zhì)
- 一種服務(wù)器內(nèi)4GPU布局結(jié)構(gòu)及其安裝方法
- 一種GPU資源調(diào)度系統(tǒng)及其調(diào)度方法
- 一種GPU拓?fù)浞謪^(qū)方法與裝置
- 一種基于Kubernetes的共享GPU調(diào)度方法
- 一種數(shù)據(jù)處理的方法和裝置
- 一種GPU分配方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)及設(shè)備
- 特性評(píng)價(jià)裝置以及特性評(píng)價(jià)方法
- 表面特性檢查裝置、表面特性檢查系統(tǒng)以及表面特性檢查方法
- 特性評(píng)價(jià)裝置、特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)、特性評(píng)價(jià)方法和特性評(píng)價(jià)程序
- 噴嘴特性
- 取向特性測(cè)定方法、取向特性測(cè)定程序及取向特性測(cè)定裝置
- 光學(xué)特性測(cè)定方法以及光學(xué)特性測(cè)定系統(tǒng)
- 表面特性評(píng)價(jià)方法、表面特性評(píng)價(jià)裝置以及表面特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)
- 特性判定裝置、特性判定方法以及特性判定程序
- 特性評(píng)估系統(tǒng)、特性評(píng)估方法和程序
- 特性測(cè)量裝置和特性測(cè)量方法





