[發明專利]光學檢測系統

在審

• 申請號: 201610565378.5
• 申請日: 2016-07-18
• 公開（公告）號: CN107543827A
• 公開（公告）日: 2018-01-05
• 發明（設計）人: 王人杰;賴明正
• 申請（專利權）人: 由田新技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京維澳專利代理有限公司11252
• 代理人: 王立民,張應

1.一種光學檢測系統，其特征在于，包含有：

一進料裝置，用以放置待測物；

一影像檢測站臺，獲取所述待測物的表面影像，用于檢測所述待測物的表面瑕疵；

一多軸機械手臂，用以將所述待測物移動至所述影像檢測站臺；以及

一待測物分類站臺，設置于該影像檢測站臺的一側，包含有多個出料裝置，其中，所述多軸機械手臂依據所述待測物的狀態將所述待測物分類至各個所述出料裝置。

2.如權利要求1所述的光學檢測系統，其特征在于，所述進料裝置包括移動式載盤、輸送帶、Tray盤、固定式載盤、或卡匣。

3.如權利要求1所述的光學檢測系統，其特征在于，還包括有一二維條碼掃描裝置，設置于所述進料裝置的一側，用以讀取所述待測物的二維條碼，以確認所述待測物的編號。

4.如權利要求1至3中任一項所述的光學檢測系統，其特征在于，所述影像檢測站臺包含有一第一檢測站，所述的第一檢測站提供一雷射掃描器至第一檢測區域，通過該雷射掃描器建立所述第一檢測區域上所述待測物的三維模型，用于完成對所述待測物的檢測。

5.如權利要求4所述的光學檢測系統，其特征在于，所述影像檢測站臺包含有一第二檢測站，所述的第二檢測站提供一穹型燈至第二檢測區域，以供設置于該第二檢測區域一側的影像獲取裝置拍攝所述待測物的影像。

6.如權利要求5所述的光學檢測系統，其特征在于，所述影像檢測站臺包含有一第三檢測站，所述的第三檢測站提供多個側向光源至第三檢測區域，以供設置于該第三檢測區域一側的影像獲取裝置拍攝所述待測物的影像。

7.如權利要求1至3中任一項所述的光學檢測系統，其特征在于，所述待測物分類站臺包含有一良品出料裝置、一壞品出料裝置、以及一NG出料裝置，所述多軸機械手臂依據所述待測物的瑕疵狀態分類并放置于對應的出料裝置上。

8.一種光學檢測系統，其特征在于，包含有：

一進料裝置，用以放置待測物；

一影像檢測站臺，獲取所述待測物的表面影像，用于檢測所述待測物的表面瑕疵；

一多軸機械手臂，用以將所述待測物移動至所述影像檢測站臺；以及

一循環式分類站臺，包含有多個設置于所述影像檢測站臺一側的出料裝置，以及多個分別對應于所述出料裝置的備援出料裝置，所述出料裝置及所述備援出料裝置分別位于一收料區以及一換料區，所述出料裝置于所述收料區中收集達到預設數量的該待測物時，與所述備援出料裝置的位置進行替換。

9.如權利要求8所述的光學檢測系統，其特征在于，所述進料裝置包括移動式載盤、輸送帶、Tray盤、固定式載盤、或卡匣。

10.如權利要求8所述的光學檢測系統，其特征在于，包含有一備援進料裝置，所述進料裝置及所述備援進料裝置系分別位于一供料區以及一備料區，所述進料裝置于所述供料區中減少至預設數量的所述待測物時，與所述備援進料裝置的位置進行替換。

11.如權利要求10所述的光學檢測系統，其特征在于，包含有一二維條碼掃描裝置，設置于所述備料區上，用以讀取所述備料區上所述待測物的二維條碼，以確認所述待測物的編號。

12.如權利要求10所述的光學檢測系統，其特征在于，所述進料裝置及所述備援進料裝置位于不同高度的平面上，以便所述進料裝置及所述備援進料裝置在所述供料區和所述備料區之間彼此交錯移動。

13.如權利要求9所述的光學檢測系統，其特征在于，所述出料裝置及所述備援出料裝置位于不同高度的平面上，以便所述出料裝置及所述備援出料裝置在所述收料區和所述換料區之間彼此交錯移動。

14.如權利要求8至13中任一項所述的光學檢測系統，其特征在于，所述影像檢測站臺包含有一第一檢測站、一第二檢測站、及/或一第三檢測站，所述的第一檢測站提供一雷射掃描器至第一檢測區域，通過該雷射掃描器建立該第一檢測區域上所述待測物的三維模型；所述的第二檢測站提供一穹型燈至第二檢測區域，以供設置于該第二檢測區域一側的影像獲取裝置拍攝所述待測物的影像；所述的第三檢測站提供多個側向光源至第三檢測區域，以供設置于該第三檢測區域一側的影像獲取裝置拍攝所述待測物的影像，用于完成對所述待測物的檢測。