[發明專利]一種基于雙PEM的中紅外波片位相延遲精確測量方法

有效

• 申請號: 201610560092.8
• 申請日: 2016-07-15
• 公開（公告）號: CN105954014B
• 公開（公告）日: 2018-04-13
• 發明（設計）人: 張瑞;王志斌;李克武;李曉;張志勇;解琨陽;薛鵬
• 申請（專利權）人: 中北大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京志霖恒遠知識產權代理事務所(普通合伙)11435
• 代理人: 申紹中

1.一種基于雙PEM的中紅外波片位相延遲精確測量方法，其特征在于：將中紅外激光器、起偏器、PEM1調制器、被測中紅外波片、PEM2調制器、檢偏器、紅外點探測器依次排列構成測量光路，雙PEM驅動控制電路將PEM1調制器和PEM2調制器差頻調制降低調制頻率，使紅外點探測器可進行有效探測，并將差頻信號提供給數字鎖相放大器，數字鎖相放大器對紅外點探測器獲得的調制信號進行鎖相放大，獲得鎖相頻率信號的幅值，最后通過計算機數據處理獲得被測中紅外波片的位相延遲；

所述獲得鎖相頻率信號的幅值包括未放入被測中紅外波片時獲得的幅值和加入被測中紅外波片后獲得的幅值；

在未放入被測中紅外波片時，通過測量光路獲得1倍差頻幅值和2倍差頻幅值在加入被測中紅外波片后，通過測量光路獲得1倍差頻幅值和2倍差頻幅值結合未放入的被測中紅外波片和放入被測中紅外波片的1倍差頻幅值和2倍差頻幅值可準確獲得被測中紅外波片位相延遲，以克服PEM1調制器和PEM2調制器的調制相位延遲幅值δ_0PEM1和δ_0PEM2無法精確測量的缺陷；

具體為：

步驟1、首先在未放置被測中紅外波片時測得：

步驟2、加入被測中紅外波片測得1倍差頻幅值和2倍差頻幅值

步驟3、由得到被測中紅外波片位相延遲；

上述中，f ₁ 和 f ₂ 分別為PEM1調制器和PEM2調制器的調制驅動頻率。

2.根據權利要求1所述的一種基于雙PEM的中紅外波片位相延遲精確測量方法，其特征在于：將1倍差頻幅值和2倍差頻幅值相除來消除中紅外光源自身不穩對測量的影響。

3.根據權利要求1所述的一種基于雙PEM的中紅外波片位相延遲精確測量方法，其特征在于：所述PEM1調制器和PEM2調制器的彈光晶體采用硒化鋅晶體。