[發(fā)明專利]一種物體平面內(nèi)勻稱化線應(yīng)變率場的光學(xué)測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610556037.1 | 申請日: | 2016-07-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106017344B | 公開(公告)日: | 2018-08-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王學(xué)濱;馮威武;武其奡;白雪元;馬冰;侯文騰;杜亞志;王春偉 | 申請(專利權(quán))人: | 遼寧工程技術(shù)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01B11/16 | 分類號(hào): | G01B11/16 |
| 代理公司: | 沈陽東大知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 21109 | 代理人: | 胡曉男 |
| 地址: | 123000*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 物體 平面 勻稱 應(yīng)變 光學(xué) 測量方法 | ||
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