[發(fā)明專利]應(yīng)用測試方法和裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610555124.5
• 申請日: 2016-07-14
• 公開（公告）號(hào): CN107622007A
• 公開（公告）日: 2018-01-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何曄
• 申請（專利權(quán)）人: 北京京東尚科信息技術(shù)有限公司;北京京東世紀(jì)貿(mào)易有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司11204
• 代理人: 王達(dá)佐,馬曉亞

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及應(yīng)用測試方法和應(yīng)用測試裝置。

背景技術(shù)

在完成一個(gè)應(yīng)用的基本功能之后，還會(huì)對(duì)應(yīng)用增加新的功能。新功能代碼并入原有代碼后，普遍會(huì)對(duì)原有功能產(chǎn)生影響，有可接受的影響，也有嚴(yán)重影響原有功能的影響。為了保障原有功能的正常使用，盡量降低新功能對(duì)原有功能的影響，在新功能代碼并入后，必須對(duì)應(yīng)用進(jìn)行回歸測試。

然而，現(xiàn)有的應(yīng)用測試方式通常是由測試人員根據(jù)經(jīng)驗(yàn)和測試對(duì)象的特點(diǎn)，選擇應(yīng)用的主要功能對(duì)應(yīng)的測試用例或者全部功能對(duì)應(yīng)的測試用例對(duì)應(yīng)用進(jìn)行測試，從而，存在著功能的歷史缺陷數(shù)據(jù)利用不足，應(yīng)用測試缺乏針對(duì)性的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請的目的在于提出一種改進(jìn)的應(yīng)用測試方法和裝置，來解決以上背景技術(shù)部分提到的技術(shù)問題。

第一方面，本申請?zhí)峁┝艘环N應(yīng)用測試方法，所述方法包括：獲取對(duì)應(yīng)用進(jìn)行測試的候選測試用例集合，其中，所述應(yīng)用包括至少一個(gè)應(yīng)用子功能，每個(gè)應(yīng)用子功能與用于對(duì)該應(yīng)用子功能進(jìn)行測試的測試用例相對(duì)應(yīng)；從所述至少一個(gè)應(yīng)用子功能中確定待用于測試的應(yīng)用子功能集合，其中，所述應(yīng)用子功能集合包括以下至少一項(xiàng)：按照應(yīng)用子功能的缺陷數(shù)由多到少的順序選取的預(yù)定數(shù)目的應(yīng)用子功能；具有最大損失期望值的應(yīng)用子功能，所述最大損失期望值是根據(jù)應(yīng)用子功能的歷史缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得出的；從所述候選測試用例集合中獲取與所述應(yīng)用子功能集合對(duì)應(yīng)的測試用例集合；利用所述測試用例集合對(duì)所述應(yīng)用進(jìn)行測試。

在一些實(shí)施例中，在所述從所述至少一個(gè)應(yīng)用子功能中確定待用于測試的應(yīng)用子功能集合之后，所述方法還包括：對(duì)所述應(yīng)用子功能集合進(jìn)行去重處理，生成各個(gè)應(yīng)用子功能不重復(fù)的應(yīng)用子功能集合；從所述候選測試用例集合中獲取與所述不重復(fù)的應(yīng)用子功能集合對(duì)應(yīng)的測試用例集合。

在一些實(shí)施例中，在所述從所述候選測試用例集合中獲取與所述不重復(fù)的應(yīng)用子功能集合對(duì)應(yīng)的測試用例集合之后，所述方法還包括：對(duì)所述測試用例集合進(jìn)行去重處理，生成各個(gè)測試用例不重復(fù)的測試用例集合；利用所述不重復(fù)的測試用例集合對(duì)所述應(yīng)用進(jìn)行測試。

在一些實(shí)施例中，所述候選測試用例集合包括以下至少一項(xiàng)：預(yù)先存儲(chǔ)于本地的候選測試用例集合，所述候選測試用例集合編寫于其上的終端上存儲(chǔ)的候選測試用例集合。

在一些實(shí)施例中，所述利用所述不重復(fù)的測試用例集合對(duì)所述應(yīng)用進(jìn)行測試包括：向所述應(yīng)用安裝于其上的終端發(fā)送所述不重復(fù)的測試用例集合以供所述終端利用所述不重復(fù)的測試用例集合對(duì)所述應(yīng)用進(jìn)行測試。

第二方面，本申請?zhí)峁┝艘环N應(yīng)用測試裝置，所述裝置包括：第一獲取單元，配置用于獲取對(duì)應(yīng)用進(jìn)行測試的候選測試用例集合，其中，所述應(yīng)用包括至少一個(gè)應(yīng)用子功能，每個(gè)應(yīng)用子功能與用于對(duì)該應(yīng)用子功能進(jìn)行測試的測試用例相對(duì)應(yīng)；確定單元，配置用于從所述至少一個(gè)應(yīng)用子功能中確定待用于測試的應(yīng)用子功能集合，其中，所述應(yīng)用子功能集合包括以下至少一項(xiàng)：按照應(yīng)用子功能的缺陷數(shù)由多到少的順序選取的預(yù)定數(shù)目的應(yīng)用子功能；具有最大損失期望值的應(yīng)用子功能，所述最大損失期望值是根據(jù)應(yīng)用子功能的歷史缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得出的；第二獲取單元，配置用于從所述候選測試用例集合中獲取與所述應(yīng)用子功能集合對(duì)應(yīng)的測試用例集合；測試單元，配置用于利用所述測試用例集合對(duì)所述應(yīng)用進(jìn)行測試。

在一些實(shí)施例中，所述裝置還包括：第一生成單元，配置用于對(duì)所述應(yīng)用子功能集合進(jìn)行去重處理，生成各個(gè)應(yīng)用子功能不重復(fù)的應(yīng)用子功能集合；以及所述第二獲取單元進(jìn)一步配置用于從所述候選測試用例集合中獲取與所述不重復(fù)的應(yīng)用子功能集合對(duì)應(yīng)的測試用例集合。

在一些實(shí)施例中，所述裝置還包括：第二生成單元，配置用于對(duì)所述測試用例集合進(jìn)行去重處理，生成各個(gè)測試用例不重復(fù)的測試用例集合；以及所述測試單元進(jìn)一步配置用于利用所述不重復(fù)的測試用例集合對(duì)所述應(yīng)用進(jìn)行測試。

在一些實(shí)施例中，所述候選測試用例集合包括以下至少一項(xiàng)：預(yù)先存儲(chǔ)于本地的候選測試用例集合，所述候選測試用例集合編寫于其上的終端上存儲(chǔ)的候選測試用例集合。

在一些實(shí)施例中，所述測試單元進(jìn)一步配置用于：向所述應(yīng)用安裝于其上的終端發(fā)送所述不重復(fù)的測試用例集合以供所述終端利用所述不重復(fù)的測試用例集合對(duì)所述應(yīng)用進(jìn)行測試。