[發明專利]一種相位校準方法及裝置

有效

• 申請號: 201610552140.9
• 申請日: 2016-07-13
• 公開（公告）號: CN107645770B
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發明（設計）人: 姜偉鵬;劉永俊;邢志浩
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04W64/00
• 分類號: H04W64/00;H04B17/309
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 馮艷蓮

1.一種相位校準方法，其特征在于，包括：

獲取m次測量得到n個載波的信道狀態信息CSI相位；

分別針對m次測量的各個載波的CSI相位進行相位解纏；

分別獲取解纏后的每次測量得到的每個載波的CSI相位與對應在第s次測量得到的所述每個載波的CSI相位的相位差；所述第s次測量為m次測量中的任意一次；

基于得到的各個相位差的線性特征，對所述相位差進行線性擬合得到時間偏移差和相位偏移差，所述時間偏移差作為斜率，所述相位偏移差作為偏移參數；

基于所述時間偏移差以及相位偏移差得到校準后的m次測量的n個載波的CSI相位。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述時間偏移差以及相位偏移差得到校準后的m次測量的n個載波的CSI相位，包括：

通過如下公式得到校準后的m次測量的n個載波的CSI相位：

Φ'_i＝Φ_i-ΔΦ_i′；

其中，Φ_i表示第i次測量的n個載波的CSI相位；Φ'_i表示校準后的第i次測量的n個載波的CSI相位；ΔΦ'_i＝2πf.*Δτ_i′*1+Δβ_i′*1，其中f＝[1 2 …n]*Δf，Δf為載波間隔，.*表示矩陣點乘，1＝[1 1 … 1]，Δτ_i′表示得到的時間偏移差，Δβ_i′表示得到的相位偏移差。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述各個相位差的線性特征，包括：

其中，Φ_i表示第i次測量的n個載波的CSI相位；Φ_s表示第s次測量的n個載波的CSI相位；f＝[1 2 … n]*Δf，Δf為載波間隔；τ_i表示第i次測量的時間偏移；τ_s表示第s次測量的時間偏移；β_i表示第i次測量的相位偏移；β_s表示第s次測量的相位偏移；.*表示矩陣點乘，1＝[1 1 … 1]，相位偏移表示測量得到的相位與真實相位在相位上的偏移量；時間偏移表示測量得到的相位在時間上的偏移量；θ＝[θ₁ θ₂ … θ_n]，其中θ_j,j＝1…n，為第j個載波的真實相位。

4.如權利要求1至3任一項所述的方法，其特征在于，基于得到的各個相位差的線性特征，對所述相位差進行線性擬合得到時間偏移差和相位偏移差之前，還包括：

確定滿足每次測量對應的相位差均滿足|ΔΦ_i,j+1-ΔΦ_i,j|＜A；

其中，ΔΦ_i＝Φ_i-Φ_s；表示經過相位解纏后的第i次測量的第j個載波的CSI相位；Φ_i表示第i次測量的n個載波的CSI相位；Φ_s表示第s次測量的n個載波的CSI相位；ΔΦ_i表示第i次測量的n個載波的CSI相位與第s次測量的n個載波的CSI相位的相位差；ΔΦ_i,j表示第i次測量的第j個載波與第s次測量的第j個載波的CSI相位的相位差；ΔΦ_i,j+1表示第i次測量的第j+1個載波與第s次測量的第j+1個載波的CSI相位的相位差；A為預定閾值且為小于等于π的正數。